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光纳科技成功参加了2009中国国际食品安全与质量控制大会暨展览

欧普图斯光学纳米

2009/11/12 10:48

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    11月5日,为期两天的2009第三届中国国际食品安全与质量控制大会暨展览(2009CIFSQ)在北京圆满落下帷幕。光纳科技 (OptoTrace Technologies, Inc.) 成功参加了该会议,并获得了领导、参观者及同行们的极大关注。 
   

    在11月4日,即开幕式当天上午,诸多食品安全相关政府部门的官员及相关协会领导莅临会场。国家质量监督检验检疫总局局长王勇和其他领导一起参观了光纳科技的展台,并与工作人员进行了亲切交谈。 

图1:国家质检总局局长王勇与光纳科技副总经理陆惠宗博士亲切交谈

    王勇局长在强调新兴技术力量对保障食品安全重要性的同时,对光纳科技的基于表面增强拉曼光谱技术的现场快速检测解决方案给予了充分肯定和支持,并对光纳科技的发展未来寄予了厚望,他希望并相信光纳科技能为保障中国乃至世界的食品安全贡献力量。

    展会期间,光纳科技的产品和解决方案同样吸引了众多参访者驻足。不仅有许多客户与工作人员进行产品技术交流,也不乏代理商前来磋商合作,更是吸引了数位国外商家的眼球,同时还有相关媒体杂志蜂拥前来。展台上一度人声鼎沸,热闹非凡。

图2:展位上人声鼎沸,热闹非凡 

图3:向参观者进行详细的解说和演示 

图4:与国外参观者进行交流

    届时,光纳科技的副总经理陆惠宗博士于5日下午发表了题为《表面增强拉曼光谱技术在食品安全检测中的应用》的演讲。陆博士深入浅出的演讲吸引了众多来访者,在短短的几十分钟的演讲期间,会场上座无虚席。

图5:陆惠宗博士的主题演讲会场座无虚席

    同期,大会官方杂志《食品安全导刊》 (全国唯一专注于食品安全领域的期刊杂志)上还刊登了光纳科技副总经理陆惠宗博士的访谈——《光纳科技:开创食品安全检测手提实验室之先河》,再度令光纳科技成为了本次大会的焦点。

图6:《食品安全导刊》关于光纳科技陆惠宗博士的访谈

 

 

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