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光纳科技成功参加2009中国国际警用装备展

欧普图斯光学纳米

2009/10/23 17:22

阅读:429

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  为期3天的2009中国国际警用装备展于10月17日在上海国际展览中心圆满落下帷幕,光纳科技成功参展。

  光纳科技所展示的激光拉曼光谱检测系统及表面增强纳米技术模块为现场快速的公安刑侦提供了全新的解决方案,作为本次展会上刑侦仪器类中最新的科技成果,成为了展会上一大新亮点。这一新兴的高科技产品,不仅吸引了很多专业客户驻足参观并进行深入的技术交流,同时还吸引了无数商家了解相关技术、索要资料报价等。

  光纳科技的HazardScanner检测系统,采用了光纳科技领先的表面增强拉曼光谱技术,可对毒品、毒物、易燃易爆物等进行现场快速检测,并能有效应对多种有毒有害物泄漏等突发事件。

  一个小小的标准展位,展示了新兴的前沿科技成果。光纳科技,致力于为公安刑侦提供便携、现场、快速的创新解决方案。

  图1:光纳科技在2009警用装备展的展位

  图2:光纳科技在2009警用装备展上展出的产品

  图3:光纳科技的技术人员跟专业客户进行技术交流

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