王道元董事长拜访Ulvac-PHI公司山本社长就XPS等4种纳米表面分析神器展开深入讨论

王道元董事长拜访Ulvac-PHI公司山本社长就XPS等4种纳米表面分析神器展开深入讨论

  近日王道元董事长拜访了曾经就职12年的日美合资公司Ulvac-PHI公司山本社长。彼此就如何更好地帮助中国用户用好该公司的4种纳米表面成分状态分析设备（X射线光电子能谱仪PHIQuantera II,PHI5000VersaProbe II,PHIX-Tool,俄歇电子能谱仪PHI700,PHI700Xi,PHI710,飞行时间二次离子质谱仪PHI Nano TOF-SIMS和动态二次离子质谱仪PHIAdept1010）交换了意见。希望有问题的朋友直接和我司联系。

ULVAC-PHI,INC.公司是世界上规模最大的唯一一个能够同时提供4种纳米表面成分状态分析仪器的公司。这4种仪器分别是X射线微区聚焦扫描光电子能谱仪（XPS），双筒镜俄歇电子能谱仪（AES），飞行时间型二次离子质谱仪（TOF-SIMS）和动态二次离质谱仪（D-SIMS）。这些超高真空分析仪器广泛用于各种高技术领域，如纳米科技，微电子，记录媒体，光催化，生物医学以及基础材料研究领域，如金属，聚合物，各种涂层等。尤其对新材料的研发和故障分析具有十分重要的意义。XPS不仅在表面定量方面独具特色，化学状态方面信息的提供对研究十分有价值。而AES可获得纳米级微区成分和图像的能力对纳米科技发展具有十分重要价值。TOF-SIMS除了可以高灵敏度地检测出包括氢在内的所有元素外，还可以提供表面1纳米信息深度的有机物分子结构的信息。D-SIMS对材料中微量成分检测灵敏度最高，深受半导体界用户的青睐。

该公司于1982年成立，当初是日本ULVAC术株式会社和美国PHYSICAL ELECTRONICS的合资公司。2003年日方兼并美方。该公司本部设在日本神奈川县茅崎市，在美国设有子公司，在世界各地拥有广泛用户和维修点。自从80年代进入中国市场开始和清华大学合作以来，已经拥有40余家用户，2006年又和清华大学建立了国家级表面联合实验室。2007年和上海师范大学开始合作，为该校提供中国第一台多功能平台X射线微区聚焦扫描光电子能谱仪---PHI5000VersaProbe.2009年6月，7月分别在天津46所和南京大学分析中心招标中PHI5000VersaProbe以最高价中标。尤其以下2个方面深受用户欢迎，引领XPS发展方向。

1．聚焦X射线扫描成像功能→能够帮助客户找到 

   肉眼看不到的微区                                

２．微区sensitivity方面世界第一，高于竞争对

   手一个数量级。已然达到实用化阶段。

2010年7月Ulvac-PHI公司在北京理工大学独家招标采购中标，北京理工大学也是看中了我们的上述2个特点以及独一无二的C60有机物剥离粒子枪。

2011年和2013年南京理工大学分别连续2次独家采购PHI Quantera II 和PHI5000VersaProbeII也是对我司XPS独特功能的充分肯定。

希望大家关注PHIQuantera II,PHI5000VersaProbe,PHIX-Tool,PHI710,PHINanoTOF-SIMS,PHIAdept1010.详见本公司仪器展。