日本AET公司最新推出了高频介电常数测试仪新品，专用于测试5G低介电常数和介电损耗的薄膜样品

5G时代的到来催生材料的变革与需求，新技术的出现对材料提出新的性能要求，包括微波介质陶瓷、PCB材料、半导体材料、手机天线材料、手机外壳材料、电磁屏蔽材料、导热散热材料等都将在5G应用中发生改变。

5G要求更高的电磁波传输速度、更小的信号传播损失，这意味着应用材料的介电常数和介电损耗都要尽可能的小，薄膜正是满足这些苛刻要求的材料。

由于薄膜材料厚度达到纳米级，尤其是聚酰亚胺薄膜，而介电损耗达到10^-4以下，因此，目前的介电测试仪器无法满足测试要求。

日本AET公司最新推出了介电常数测试新品，专门测试低介电常数和介电损耗的薄膜样品。

该产品可测试频率最高达到40GHz

介电常数范围在Epsilon：1～5；  准确度：accuracy： +/- 1%，

介电损耗范围在Tangent delta： 0.0001～0.01；准确度accuracy： +/- 5%。

亚铭（北京）科技有限公司作为日本AET.Inc正式授权的中国区总代理商，全权处理日本AET.Inc的高频(微波)介电常数测试仪产品在中国的销售和技术支持。