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椭圆偏光膜厚测量仪(手动)

品牌: 半球
产地: 日本
型号: 1
报价: 面议
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产品介绍

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产品特点:                                                           

400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。

自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。

采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。

搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。

可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。


产品规格:                                                            

样品对应尺寸100×100mm
测量方式偏光片元件回转方式
入射/反射角度范围45~90o
入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更
波长测量范围300~800nm
分光元件Poly-chrometer
尺寸650(H)×400D×560Wmm
重量约50kg


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半球其他半导体检测仪1的工作原理介绍

其他半导体检测仪1的使用方法?

半球1多少钱一台?

其他半导体检测仪1可以检测什么?

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半球1的说明书有吗?

半球其他半导体检测仪1的操作规程有吗?

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工商信息

企业名称

瞬渺科技(香港)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2008-10-15

注册资本

266

经营范围

联系方式
瞬渺科技(香港)有限公司为您提供半球椭圆偏光膜厚测量仪(手动)1,半球1产地为日本,属于其他,除了椭圆偏光膜厚测量仪(手动)的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他,瞬渺科技客服电话400-860-5168转1545,售前、售后均可联系。
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