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反射式膜厚测量仪

品牌: 半球
产地: 日本
型号: 0
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产品介绍

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产品特点:                                                              

非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。

高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。

宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)

薄膜到厚膜的膜厚测量范围。1nm~250μm

对应显微镜下的微距测量口径。


产品规格:                                                              


标准型

厚膜专用型

膜存测量范围

1nm~40μm

0.8μm~250μm

波长测量范围

190~1100nm

750~850nm

感光元件

PDA 512ch(电子制冷)

CCD 512ch(电子制冷)

PDA 512ch(电子制冷)

光源规格

D2(紫外线)、12(可见光)、D2+12(紫外-可见光)

12(可见光)

电源规格

AC 100V±10V 750VA(自动样品台规格)

尺寸

4810(H)×770(D)×714(W)mm(自动样品台规格之主体部分)

重量

约96kg(自动样品台规格之主体部分)


 应用范围:                                                              

FPD

   -LCD、TFT、OLED(有机EL)

半导体、复合半导体

   -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料

资料储存

   -DVD、磁头薄膜、磁性材料

光学材料

   -滤光片、抗反射膜

平面显示器

   -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED

薄膜

   -AR膜

其他

   -建筑用材料


测量范围:                                                              

玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析


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工商信息

企业名称

瞬渺科技(香港)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2008-10-15

注册资本

266

经营范围

联系方式
瞬渺科技(香港)有限公司为您提供半球反射式膜厚测量仪0,半球0产地为日本,属于其他,除了反射式膜厚测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多其他,瞬渺科技客服电话400-860-5168转1545,售前、售后均可联系。

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