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PHASICS SID4 DWIR 波前探测器

品牌: Phasics
产地: 法国
型号: SID4 DWIR
样本: 下载
报价: 面议
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产品介绍
简介
法国Phasics公司的SID4波前探测器采用革新性技术,具备高分辨率相位图、直接测量高发散光束和消色差能力,适用于激光束质量分析、自适应光学、光学元件表面测量、生物成像及热成像等领域。该系列传感器提供多种型号以满足不同波长和应用场景的需求。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器,具有如下独特

技术优势:

●高分辨率的相位图,最高分辨率可达400x300。

●具有直接测量高发散光束的能力

●消色差,匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准。

应用方向:

●激光束质量分析

●自适应光学

●光学元件表面测量

●生物成像

●热成像,等离子体表面物理

法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下

 

型号

SID4

SID4-HR

SID4-DWIR

SID4-SWIR

SID4-NIR

SID4-UV

SID4 UV-HR

孔径

3.6 × 4.8 mm2

8.9 × 11.8 mm2

13.44 × 10.08 mm2

9.6 × 7.68 mm2

3.6 × 4.8 mm2

7.4 × 7.4 mm2

8.0 × 8.0 mm2

空间分辨率

29.6 μm

29.6 μm

68 μm

120 μm

29.6 μm

29.6 μm

32 μm

采样点/测量点

160 × 120

400 × 300

160 × 120

80 × 64

160 × 120

250 × 250

250 × 250

波长

400 nm ~ 1100 nm

400 nm ~ 1100 nm

3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm

0.9 ~ 1.7 μm

1.5 ~ 1.6 μm

250 ~ 450 nm

190 ~ 400 nm

动态范围

> 100 μm

> 500 μm

N/A

~ 100 μm

> 100 μm

> 200 μm

> 200 μm

精度

10 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

10 nm RMS

> 15 nm RMS

20 nm RMS

10 nm

灵敏度

< 2 nm RMS

< 2 nm RMS

< 25 nm RMS

3 nm RMS ( 高增益)< 1 nm RMS ( 低增益)

< 11 nm RMS

2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2

0.5 nm

采样频率

> 60 fps

> 10 fps

> 50 fps

25/30/50/60 fps

60 fps

30 fps

30 fps

处理频率

10 Hz ( 高分辨率)

3 Hz ( 高分辨率)

20 Hz

> 10 Hz ( 高分辨率)

10 Hz

> 2 Hz ( 高分辨率)

1 Hz

尺寸

54 × 46 × 75.3 mm

54 × 46 × 79 mm

85 × 116 × 179 mm

50 × 50 × 90 mm

44 × 33 × 57.5 mm

53 × 63 × 83 mm

95 × 105 × 84 mm

重量

250 g

250 g

1.6 kg

300 g

250 g

450 g

900 g

 

典型用户

用户单位

采购时间

采购数量

绵阳九院八所

2015/01/20

3

国防科技大学

2014/10/10

2

中科院上海光机所

2014/11/12

1

上海交通大学

2014/04/01

1

问商家

Phasics光学测量仪SID4 DWIR的工作原理介绍

光学测量仪SID4 DWIR的使用方法?

PhasicsSID4 DWIR多少钱一台?

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工商信息

企业名称

瞬渺科技(香港)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

成立日期

2008-10-15

注册资本

266

经营范围

联系方式
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