我司热分析设备--选型指南

如不清楚样品的特性或无法选型，可以联系我公司销售人员；同时，我司欢迎您的莅临，现场检验设备的性能。
　　热分析设备是一种通过加热，检测样品温度与重量、差热信号的关系，热分析设备主要分为差示扫描量热仪（差热法DSC,DTA）、热重分析仪（热重法TGA，DTG）、综合热分析（DSC-DTA-TGA）三个大类：
第1类：差示扫描量热仪

　　差示扫描量热仪（Differential Scanning Calorimetry，差热法，DSC,DTA）主要是测试样品的熔点、热固化、光固化、冷结晶、相变潜热、玻璃化转变温度、氧化诱导期、分解温度、比热容、反应动力学等

第二类：热重分析仪

　　热重分析仪（Thermal Gravimetric Analyzer，热重法TGA，DTG）主要是测试的是样品质量随着温度变化（或时间变化，比如说在某温度下恒温X小时）而变化的关系。

第三类：综合热分析仪

　　综合热分析仪（Simultaneous Thermal Analyzer，同步热分析仪，DSC-TGA或DTA-TGA）在测试样品的重量变化的同时，测试样品发生的差热变化。

以上三种热分析仪，为通用型常见的检测设备，每一种设备都有十几、二十种型号，究竟如何选型？

　　大概的方向如下：首先，确认一下需要测试的项目，是重量方向还是差热方向，或者两个都需要？其次根据温度，比如说，测试铅的熔点，铅熔点为327.5℃，那么使用差示扫描量热仪（DSC）室温~500℃即可。

第1类：差示扫描量热仪（选型）
我公司差示扫描量热仪主要类型：

1、只测试等温氧化诱导期（氧化诱导时间、OIT），主要是电线电缆、管道行业：
①OIT-500A（是一体机设备，内嵌工控电脑，无需另配电脑，一键式操作测试氧化诱导期）

  OIT-500B（需要外配电脑使用）
2、任意测试熔点、热固化、冷结晶相变潜热、玻璃化转变温度、氧化诱导期、分解温度，行业不限；
②根据样品的待测温度选择适当的范围：-160℃~500℃/800℃，-40℃/
-30℃/-20℃/-10℃~500℃，可以选择：RT~500℃/800℃/1150℃/1450℃
/1550℃；温度适合的比较好，不建议预留温度区间过大，比如说应该在600℃左右，DSC-800即可（RT~800℃），如果没有扩项的需要，选择RT~1550℃或者-160℃~800℃，就不是很合适了。

第二类：热重分析仪（选型）

我公司热重分析仪主要类型：

①按照温度分：TGA-1000系列（RT-1000℃），TGA-1250系列（RT-1250℃），TGA-1450系列（RT-1450℃）；
②按照天平档次分：TGA-A系列（国产0.1mg分辨率的普通天平），TGA-B系列（国产0.01mg分辨率的天平）

第三类：综合热分析仪（选型）

我公司综合热分析仪主要类型与热重分析仪类似：
①按照温度分：STA-1150，STA-1450

选型方案不是的，如不清楚样品的特性或未知选型，可以联系我公司销售人员