SGW X-4显微熔点仪

物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中，熔点测定是辨认该物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一。

目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。

本仪器可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等；也可用药典规定的毛细管方法测其熔点，尤其对深色样品，如医药中间体、颜料、橡胶促进剂等的熔点，并能自始自终观察到其熔化的全过程。

主要技术参数
1. 显微镜采用4倍物镜，10倍目镜
2. 测量范围：室温∽320℃
3. 测量精密度：室温∽200℃的误差±1℃
200℃∽320℃的误差±2℃
4. 电源220V 50HZ 功率 80W

特点

1. 本仪器使用毛细管法进行测量。专利申请号：011322519
2. 根据特殊要求，本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。
3. 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
4. 本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构，简单可靠，使用方便。
5. 升温速率连续可调。我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在第一次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意（1）室温的影响；在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢。（2）电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率一定时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可。编号越大，升温速率越快。