X射線螢光鍍層測厚儀

仪器简介：
CMI900射線螢光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量,高生產力，高再現性等優點，在品質管制到不良品分析有著廣泛的應用。用於電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

技术参数：
元素範圍 鈦(Ti22) ~ 鈾(U92)
X射線激發系統 垂直上照式X射線光學系統，50W(4-50kV，0-1.0mA)（可選75W）
靶材 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
濾光片 二次X射線濾光片：3個位置程式控制交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
准直器程式控制交換系統 最多可同時裝配6種規格的准直器。圓形，如4、6、8、12、20 mil等矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)。在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
樣品室 開槽式樣品室，610mm x 610mm
XY軸程式控制移動範圍 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選
Z軸程式控制移動高度 43.18mm
XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程式控制、XY軸手動控制和Z軸程式控制、XYZ三軸手動控制
樣品觀察系統 高分辨彩色CCD觀察系統標配30倍，鐳射自動對焦功能，可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
測厚範圍 取決於您具體應用來配置


主要特点：
1. 精度高、穩定性好
通過溫度補償跟光譜教正提高測試穩定性，溫度補償：通過檢測系統溫度，消除溫度變化可能帶來的溫度影響。光譜校正：檢測系統性能，自動校準系統偏差。
經驗值校準，國際校正的標準塊，確保結果的可塑性。美國國家實驗室（A2LA）核准實驗室，保證系統的完整性。
2. 強大的資料統計、處理功能
平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、資料變動範圍、資料編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
資料分組、X-bar/R圖表、直方圖，資料庫存儲功能及任選軟體：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
3. 測量範圍寬
可檢測元素範圍：Ti22 – U92，可同時測定5層/15種元素/共存元素校正，液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量。多達4個樣品的光譜同時顯示和比較。
4. 測量自動化功能
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重複測量模式
測量位置預覽功能及鐳射對焦和自動對焦功能
5. 多圖顯示模式
可设定测量点并可以连续多点测量，测量位置预览(图表显示)