能量分散式X光荧光光谱仪

JSX-3400RⅡ是日本電子株式會社推出的08年新一代高性能能量分散型螢光X射線元素分析儀。該設備具有出眾性能指標，不僅能很好對應RoHS指令、ELV指令和其他環境指令相關元素分析，還對鹵素Cl高精度測試分析。 能同時達到無鹵測試及ROHS測試。

元素範圍: Na11 - U92
解 析 度: 保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度最佳之桌上型XRF)
X 射線管: 5-50kV, 1mA, 50W
靶 材: Rh靶
濾波機構: 4種自動交換(包括Open)
准 直 器: 1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ
探 測 器: 液氮製冷型Si(Li)半導體探測器
液 氮3升:（消耗量1升/日以下）僅使用
樣品室尺寸: 300 mmΦ x 150mmH
樣品室環境: 大氣， 真空（可選）
作業系統: Windows XP，19寸彩色顯示器
主要附件: 能量校正樣品/強度校正樣品/檢查樣品
設備電源: 單相AC100V±10%，單相AC220V±10%.

1. 實現高靈敏度*微少成分的分析*短時間測定！
a:採用新光學系統與高解析度 Si(Li) 型檢測器。檢測器解析度保證在149eV以下。(業界 最好的保證分辯率).
b:最新開發的針對RoHS用X射線濾波器。減除了X射線管發出的干擾波峰以外，實現了波 峰背景的低減與避免共存元素影響。
2. 內置標配塑膠和金屬的檢量線。用戶不需要再做！
a:通過設備的校正功能，配置各種檢量線長期使用完全有效。一般的保守也特別簡單。
b:可針對Cl的檢量線，檢測極限可達9個PPM，達到無鹵測試要求。
3. 簡單方便的作業系統
a:按一鍵就完成測定!自動保存結果。一鍵生成報告.
4. 材料元素 Monitoring 系統。
a:實現樣品形狀/厚度/面積和材料性質補正都自動進行。在業界最多補正功能。滿足樣 品基材多樣性需求。
5. 採用300mmφ 大型樣品室，自動樣品樣品倉門。
a:大樣品可以直接放入様品室。自動樣品倉門更好密封樣品室。