搜全站
搜展位
苏州安创仪器有限公司
关注
已关注
已认证
粉丝量 0
产品介绍
仪器简介：
科美（K-MAC）公司的ST2000-DLXn薄膜测厚仪适用于大学和科研中心。
技术参数：
1、尺寸 ：190 x 265 x 316 mm
2、重量 ：12Kg
3、类型 ：手动的
4、测量样本大小 ：≤ 4"
5、测量方法 ：非接触式
6、测量原理 ：反射计
7、活动范围 ：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围 ：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
9、光斑尺寸 ：20㎛ 典型值
10、测量速度 ：1~2 sec./site
11、应用领域 ：a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择 ：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型 ：三目探头
14、nosepiece ：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型 ：12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点：
测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
科美（K-MAC）公司的ST2000-DLXn薄膜测厚仪适用于大学和科研中心。
技术参数：
1、尺寸 ：190 x 265 x 316 mm
2、重量 ：12Kg
3、类型 ：手动的
4、测量样本大小 ：≤ 4"
5、测量方法 ：非接触式
6、测量原理 ：反射计
7、活动范围 ：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围 ：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
9、光斑尺寸 ：20㎛ 典型值
10、测量速度 ：1~2 sec./site
11、应用领域 ：a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择 ：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型 ：三目探头
14、nosepiece ：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型 ：12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点：
测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
工商信息
企业名称
苏州安创仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
320512000052419
成立日期
2006-12-26
注册资本
100
经营范围
销售:实验器材、实验耗材、仪器仪表、机电设备、五金交电、非危险化工产品、生物试剂、家具、玻璃仪器、计算机及耗材、软件、劳保用品、文化用品,经营和代理上述商品及相关技术的进出口业务;商务信息咨询;实验技术咨询服务;仪器设备的上门维护维修服务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
联系我们
苏州安创仪器有限公司
公司地址
苏州工业园区淞北路45号4-305
客服电话
苏州安创仪器有限公司为您提供科美仪器ST2000薄膜测厚仪（涂层）ST2000-DLXn，科美仪器ST2000-DLXn产地为韩国，属于其它测量/计量仪器，除了ST2000薄膜测厚仪（涂层）的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多其它测量/计量仪器,苏州安创仪器客服电话，售前、售后均可联系。
推荐产品
供应产品
