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2013激光光束断面分析选购指南
 | WinCamDTM -UCD12 14-bit | WinCamDTM -UCD15 16-bit | WinCamDTM -UCD23 14-bit | WinCamDTM-UHR BladeCamTM-HR 10-bit CW | WinCamDTM-XHR BladeCamTM-XHR 10-bit CW | WinCamDTM-FIR2-16-HR 14-bit |
| 传感器 | 1.4MPixel | 1.9MPixel 4.4x4.45μm 1600x1200 | 1.4MPixel 6.45x6.45μm 1360x1024 | 1.3MPixel 5.25.2μm 1280x1024 | 3.1MPixel 3.2x3.2μm 2048x1536 | 307kPixel 17x417μm 640x480 |
| 传感技术成像范围 | 1/2" CCD 6.3x4.8mm | 1/1.8" CCD 7.1x5.4mm | 2/3" CCD 8.8x6.6mm | 1/2" CMOS 6.6x5.3mm | 1/2" CMOS 65x4.9mm | Si Microbolometer 13.4x10.8mm |
| TaperCamDTM-UCD12:14.4x10.8mm active area FO Taper TaperCamDTM-20-15-UCD23:20x15mm active area FO Taper | N/A | |||||
| 接口 | USB2.0供电口 | |||||
| 连续或脉冲 | 连续，脉冲，自动触发 | 连续 | 连续/有限脉冲 | |||
| 快门单脉冲采样率 | 同步 | 旋转式 | Rolling T≈10ms | |||
| To25 kHz | N/A | |||||
| 1->355nm 355-1150nm 355-1350nm 1480-1605nm 2-16um | 需配合使用UV转换器 | N/A | ||||
| 标准 | N/A | |||||
| 扩展范围-1310版本 | N/A | |||||
| 需配合实验CamIR适配器 | N/A | |||||
| N/A | Yes | |||||
| X-Yprofiles | Yes | |||||
| 最佳分辨率 | ~1μm | ~3μm | ||||
| 最小光束直径 | 47μm | 44μm | 65μm | 52μm | 32μm | 170μm |
| 最大高斯束腰 | ~3.2mm | ~3.6mm | ~4.42mm | ~3.6mm | ~3.6mm | ~6.8mm |
| 功率范围 | 配合必要的配件，可达数瓦（焦耳），取决于光束直径、衰减和采样率 | |||||
| 刷新率 | 可达10Hz以上，取决于拍摄单元和分辨率 | 9Hz | ||||
| M2测量 | 可以使用附件M2DU-WCD | N/A | ||||
| 定焦 | 转动光源或相机，使用附件M2DU-WCD | |||||
| 汇聚/发散/准直 | 已知与束腰距离，或使用高斯光束发散镜时，可选择M2DU-WCD | |||||
| 动态范围 | 使用附加衰减片或取样器可以达到更大范围 | 联系我们 | ||||
| 信噪比 | ≥1000：1 | ≥100：1 | ||||
| 最大光是面积 | 见下列表格 | |||||
| WinCamDTM-UCD12 WinCamDTM-UHR/XHR BladeCamTM-HR/XHR | WinCamDTM-UCD15 WinCamDTM-UCD23 | TaperCamDTM Series | NIR Converter; UV转换器 | WinCamDTM-FIR2-16-HR |
 |  |  |  |  |
| BeamScopeTM-P8 狭缝或针孔可在狭窄空间中使用的探头 | Beam'RTM2 X-Y狭缝扫描| | BeamMapTM2 实时X-Y-Z和角度分析 双模式选择探测器 |
| 分析或 成像 | 精确，12bit率 | ||
| 多功能X-Y探头可选二维+M2 | 精确的XY | XYZ会聚，准直性，M2 | |
| 接口 | USB 2.0 | USB 2.0 供电 | |
| 连续或 脉冲 | 连续，脉冲重复频率大于5kHz | 连续，脉冲重复频率大于100kHz,取决于光束直径 | |
| 190-1150nm 800-1800nm 1000-2500nm 1.5-3.9μm 190-2500nm | 硅探测器 | ||
| 锗探测器 | (650-1800nm)砷化铟镓探测器 | ||
| N/A | 扩展范围砷化铟镓探测器，直径3mm | ||
| 砷化铟镓探测器-直径3mm | N/A | ||
| N/A | 硅/砷化铟镓双头探测器 | ||
| 线分析 | Yes | ||
| X Profile | Yes | ||
| X-Y Profile | Yes | ||
| X-Y-Z Profile,θ-Φ | N/A | 是，享有专利 | |
| 面积成像 | Yes-with P8-2D | N/A | |
| 最佳分辨率 | 0.5μm (2.5μm with P8-2D) | 0.1μm | |
| 最小光斑直径 | 100μm | 0.5μm | |
| 最大光斑直径 | 如下图所示 | ||
| 可承受能量范围 | 配合必要的配件，可达数瓦(焦耳),取决于光束直径、衰减和采样率 | ||
| 刷新速率 | 1 to 2 Hz (P8-2D stage,0.01 Hz) | 5 Hz 实时 | |
| 聚焦点 M2测量 | Yes-使用M2DU-BR附件 | 可以-实时 | |
| 会聚/发散 | Yes-使用M2DU-BS8附件 | Yes-使用M2DU-BR附件 | 可以-会聚光束时自动 |
| 准直 | ColliMateTM head | ||
| 增益 | 42.5dB | 36 dB | |
扫描和图像为真实尺寸，单位是mm
 |  | BeamScopeTM-P8(配P8-2D适配器) |
企业名称
上海科铭仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310110000352627
成立日期
2005-01-11
注册资本
100
经营范围
科艺仪器有限公司
公司地址
上海市松花江路251弄3号8楼
客服电话
公司名称： 科艺仪器有限公司
公司地址： 上海市松花江路251弄3号8楼 联系人： 邮编： 200093
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