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狭缝扫描
波长范围： 190-1100nm
800-1800nm
1.5-3.5um
分辨率 2um
zhui小光束 100um
扫描区域 5*7mm-Si
3mm-Ge
3mm-InGAS
结合二维运动台 23*43mm
典型应用
à 激光/二极管激光表征
à 激光组件开发、对准、表征、生产测试和品控。
à 如下应用的激光器和激光器组件：
- 磁盘/晶圆表征
- 激光打印/打标
- 医疗激光
- 条形码扫描仪等。
即时的：
à X-Y 轮廓测量
à 发散角
à 椭圆、质心、高斯拟合
à 相对功率
特征：
à 光束尺寸 100um至 45 mm
à 分辨率 2um 或 范围的0.5 %
à 190 nm 至 3.5um 可项
à M2 测量附件
à 符合 ISO 11146
à 适用于密闭空间的窄探头
à 前置光阑
à 宽动态范围
à 功能强大、直观的软件
à 升级选项，BeamScope-P7 至 USB 2.0
配件和选项
à M2 测量附件-USB 2.0
à UV - NIR 选项 190 至 3.5 μm
à 2-D 扫描平台，用于 23 x 45 mm 轮廓分析
BeamScope-P8 系统包括：一个紧凑测头、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 线缆、用户手册和适用于 Windows XP、Vista 或 Windows7 的软件。
工作原理：线性扫描探头带有单个针孔、单个狭缝或正交 X-Y 狭缝。这种线性扫描满足 ISO 11146 激光轮廓标准的严格要求。穿过狭缝的光落在硅（190 至 1150 nm）或锗（800 至 1800 nm）探测器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析仪之前，没有市售的狭缝扫描或刀刃扫描光束分析仪符合 ISO 11146 标准。该标准要求在与传播轴正交的平面上进行扫描。鼓式扫描仪不符合标准。 DataRay 独特的线性扫描探头的设计完全符合标准。]
获取狭窄区域的光束轮廓BeamScope-P8 使曾经难以测量的光束轮廓的测量不仅成为可能，而且变得简单。独特的探头式扫描头可轻松观察透镜、反射镜和滤光片之间狭窄的轴向间隙。它能够探测窄至 12 毫米的沿轴空间，开创了一个全新的应用场景。
没有来自光学元件或滤光片的光束失真
光束不会因辅助光学元件或滤光片而失真，因为 BeamScope-P8 在分析大多数类型的激光器时不需要它们。 AUTO GAIN 功能可以连续调整探测器放大器增益，以确保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范围。可以从单个扫描头测量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。结合新的 2-D 运动台附件扫描高达 23 x 45 mm 的光束区域。
前置光阑
前置光阑使您能够准确地看到光束被测量的位置。如果您可以靠近光源，快速发散和快速聚焦的光束很容易捕获。现在测量激光二极管阵列、微透镜源、宽条纹激光器等比以往任何时候都更容易。可用的光阑可以在针孔孔径上容纳高达 100 W/mm2 的功率密度。 （zhui大总功率 = 0.5 W）在几分钟内将孔径从狭缝变为针孔。这赋予了 BeamScope-P8 成为光束分析仪中良好的价值。
带 USB 2.0 的笔记本电脑便携性
BeamScope 将接口插入您的笔记本电脑上的 USB 2.0 端口，以提供占用空间小的便携式设备。
研发、品控和生产的良好选择
研发用户将感受全面的分析功能。 QA 和生产工程师会喜欢将测试配置保存为 JOB 文件并在屏幕上指示通过/失败的功能。
良好的 M2 测量
BeamScopeTM P8 可选 M2DU-P8 附件不同于市场上的任何其他附件。没有复杂的调整，但用户可以实现高度可重复的测量。该软件会自动在腰部区域进行更频繁的测量，以准确确定真实的束腰直径。
23 x 45 mm 2-D 扫描台
DataRay 新的光束分析创新技术可在高达 23 x 45 毫米的光束区域上提供非凡的 0.2%（512 x 512 像素）分辨率，小至 5 x 5um (HxV)。二维扫描结果显示在用于区域图像分析的集成成像软件中。
光束范围 | P8产品规格 [如有更改，恕不另行通知.] |
可测得对象 | CW 或脉冲激光 > 5kHz 脉冲重复率 @ 5% 占空比。 PRR越高越好。 |
测量光束功率 | 请参阅下面注释中的图表。 例如。 6 uW 至 3 W，对于 1 mm 直径 (1/e2 ) 高斯光束 @ 633 nm，5um 狭缝。 |
光学动态范围 | 55 dB (= 300,000:1) [75 dB 使用中性密度 2.0的衰减片] |
最大扫描形状 区域 针孔（PA系列） 单狭缝（SS系列） X-Y 狭缝（XY 系列） 二维运动台 (M2B) | 重要提示：为了准确测量，光束宽度应 < 0.5 x 扫描尺寸 使用 /EPH 扩展探头时，以下 23 毫米的尺寸变为 35 毫米。 形状 交叉扫描 x 扫描长度 线扫描 针孔直径 x 23 mm 矩形 7* x 23 毫米，（* 5 用于 Ge，3 用于 InAs） 梯形 5* x 15/5 mm，（* 3 用于 Ge，2 用于 InAs，3.5 x 13.5/6.5 用于 XYPl5） 矩形 45 x 23 毫米扫描区域图像。 在该区域扫描针孔。 |
可测量的光束直径/宽度 | 100um 至 ~ 25 毫米。 定义为 1/e2 直径，= 高斯光束峰值的 13.5%） |
测量分辨率 | 2um 或测量光束直径的 0.5 %，以较大者为选项 |
测量精度 | ±±2um或者测量光束直径的 ±2% |
测量的光束轮廓 | X & Y 线性和对数轮廓显示模式 |
测量的轮廓参数 | 高斯光束直径 高斯拟合 二次力矩光束直径 刀口光束直径 质心的相对和绝对位置， 椭圆度 + 主轴方向 光束漂移显示 |
显示的配置文件 | 仅 X、仅 Y、X 和 Y 二维图（10,16 或 256 色）重构见注 1 3-D 绘图（10,16 或 256 色）重构见注 1 |
更新率 | 1 到 2Hz。 取决于 PC 处理器速度、扫描的配置文件和选定的选项 |
数据分析 通过/失败 平均 标准差 | 在所有测量参数上，在屏幕上，以可选的通过/失败颜色显示 光束直径运行平均和累积平均选项 在累积平均屏幕上 |
功率测量 | 单位为 mW、dBm、dB、% 或用户输入（相对于用户提供的参考测量。） |
光源到狭缝距离 | 最小 1.0 毫米 |
孔径大小 狭缝 针孔 | 重要提示：有关可测量的光束尺寸，请参见扫描区域（前述），请参见注释 2 2.5、5、10、25 和 100um 宽 7 毫米长 （5 um 狭缝的平面版为 5 毫米长） 5, 10, 25 和 50um 直径（更大或更小的针孔，特殊订单）见注 2 |
波长范围 硅探测器 锗探测器 砷化镓 | 190 to 1150 nm 800 to 1800 nm 1.5 to 3.5 μm |
安装 | ?-20 & M6 螺纹安装孔 |
温度范围（包括附件） 操作 贮存 | 10oto 35℃ 5 to 45℃ |
最低电脑要求 PC 或 Intel-Mac | USB2.0 端口，Windows XP、Vista 或 Windows 7； 1024 MB 内存； 10 MB 硬盘空间； 1024 x 768 显示器。 |
注：
1. 2-D 和 3-D 轮廓是通过 X-Y 扫描“重建”的，假设测量的 X 光束轮廓对于所有 Y 值都相同，并且测量的 Y 光束轮廓对于所有值X都相同。
2. 在单缝或针孔模式下，缝/针孔宽度应小于等于被测光束直径的1/3。对于倾斜±45° 的 X-Y 狭缝对，该比率约为 1/5。
3. 在刀刃模式下，狭缝宽度应大于等于光束直径的 3 倍。对于以±45° 倾斜的 X-Y 狭缝对，该比率是不小于光束直径的4.3 倍。
功率限制。该图允许您简单地确定 BeamScope 可以在没有额外衰减的情况下测量的近似最大光功率。该限制是探测器电流限制。
PxS 是以瓦特为单位的功率限制。
计算激光波长的功率极限：
该图显示了直径为 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狭缝的近似饱和光束功率（以 mW 为单位）与波长的关系。
1) 确定波长的标绘值 PS mW。 （例如 633 nm 时为 70 mw）
2) 对于不同的狭缝或光束，将 PS 乘以：0.05.(光束直径，μm)/(狭缝宽度，μm)
3) 对于针孔，将 PS 乘以0.05 x（光束直径，μm）2 /（针孔直径μm）2
企业名称
上海科铭仪器有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310110000352627
成立日期
2005-01-11
注册资本
100
经营范围
科艺仪器有限公司
公司地址
上海市松花江路251弄3号8楼
客服电话
公司名称： 科艺仪器有限公司
公司地址： 上海市松花江路251弄3号8楼 联系人： 邮编： 200093
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