SP-1700紫外可见光谱反射仪

上海光谱SP-1700紫外可见光谱反射仪仪器简介：

主要用途和适用范围 
作为一种紫外可见光谱反射仪，SP-1700系列可广泛地用于光学、化学、机械等科学研究领域以及光学器材制造、镀膜行业、宝石业、化学工业、冶金工业等企事业单位进行快速质检和精确分析。

上海光谱SP-1700紫外可见光谱反射仪技术参数：

主要规格 
波长范围 波长移动范围190.0~1100.0 nm，性能指标考核范围200.0~1000.0 nm 
测量模式 透过率、相对、绝对反射率、能量 
波长精度 ±1 nm 波长重复性 0.3 nm 
光度范围 0~200.0%T，　0.300~3.000A，0~9999C 
光度精度 0.5%T(0-100.0%T) 光度重复性 0.3%T 
光度稳定性: ±0.002（500nm处，预热半小时后） 
基线平直度; ±0.004A (200-1000nm，预热半小时后) 
杂散光 ≤0.3%T。 
反射角度可调范围 22.5°~90.0° 反射角准确度 ±0.5° 
反射率精度 0.5%F(0-100.0%F)( 相对反射) 
外形尺寸 400×700×330mm 

技术规格和部分功能可能有所变动，恕不预告，敬请谅解 
产品型号 1700 1710 1702 1712 
样品室 手动旋转平台 自动旋转定位平台(双旋) 手动旋转平台 自动旋转定位平台(双旋) 
光谱带宽nm 0.5、1、2、4 2

上海光谱SP-1700紫外可见光谱反射仪主要特点：

主要技术特点 
绝对反射专利测量技术： 
这是一款用于测量各种形状的光学元件透射率、相对反射率、绝对反射率的专用仪器。 
仪器由光学测量工作站软件控制，反射角度可在22.5-90o范围内任意可调，360o范围内任意设置样品被测角度，以满足不同形状元件的测量透射率、反射率的要求。 
仪器改变了传统的分光光度计测量方法。首创了检测器移动和样品测量架旋转技术，测量时，无需构建复杂的光路和专用的测量附件，从而提高了仪器的信噪比，简化了操作过程。结合专为光学测量设计的工作站软件，可显示透射率、反射率曲线，自动检测峰高，等高点等数据。 
该技术已申请发明专利和实用新型专利，并已被国家专利局正式受理。 
经典的光学系统 
经典的自准式、大光通量单色光路，长寿命高反射光学部件，1200条/毫米高性能衍射光栅，长光程检测光束，高灵敏度检测器和高性能信号处理系统。仪器由SPWin-optical紫外可见光谱反射仪工作站控制。 
多种狭缝宽度可调 
狭缝可调型产品，有0.5、1、2、4nm等4种光谱带宽可选。 
根据样品需要可选择不同的光谱带宽，满足各种测试精度的需要。