您好，欢迎访问仪器信息网

搜全站

搜展位

北京雅士林试验设备有限公司

关注

已关注

已认证

粉丝量 0

全部分类

首页

产品中心

解决方案

资料中心

访客留言

联系方式

关于我们

公司简介

资质荣誉

当前位置：北京雅士林 > 解决方案 > 冷热冲击试验箱主要测试半导体封装体热胀冷缩的耐久性

冷热冲击试验箱主要测试半导体封装体热胀冷缩的耐久性

2022/06/16 16:38

阅读：86

应用领域：

半导体

发布时间：

2022/06/16

检测样品：

集成电路

检测项目：

可靠性能

浏览次数：

86次

下载次数：

0次

免费下载

参考标准：

冷热冲击试验箱

方案摘要：

在封装中，材料之间都有相应的结合面，在封装体所处环境的温度有所变化时，封装体内各种材料就会有热胀冷缩效应，当材料热胀冷缩系数不同时，其热胀冷缩时程度将有所不同，这样原来紧密结合的材料结合面就会出现问题。主要材料包括：导线架的铜材料，芯片的硅材料，连接用的金线材料，还有芯片粘结的胶体材料；其中塑料包封装与硅芯片，导线框有大面积接触，容易脱皮，硅芯片与粘合的硅胶也会在测试中失效。芯片表面脱层导致电路短路，脱层处影响到金线，扯断金线会造成短路，芯片在测试中开裂，会导致电路混乱或短路。为了更好通过测试，尽量减少各种材料的热膨胀差异，在芯片表面涂上一层缓冲层胶体过度是好的解决方案。

产品配置单：

前处理设备

高低温冲击试验箱高低温冲击试验箱参数冲击试验箱

型号： WDCJ-100

产地：北京

品牌：雅士林

¥1万 - 5万

参考报价

联系电话

盐雾试验箱盐雾试验箱型号盐雾试验箱

型号： YWX/Q- 150

产地：北京

品牌：雅士林

¥2万 - 5万

参考报价

联系电话

紫外老化试验箱紫外老化试验箱型号紫外老化试验箱

型号： ZN-P

产地：北京

品牌：雅士林

¥5万 - 10万

参考报价

联系电话

高低温湿热试验箱湿热试验箱高低温湿热箱湿热箱

型号： GDS- 100

产地：北京

品牌：雅士林

¥0 - 5万

参考报价

联系电话

高低温试验箱高低温交变试验箱高低温箱高低温机

型号： GDW- 100

产地：北京

品牌：雅士林

¥0 - 5万

参考报价

联系电话

冷热冲击试验箱冷热冲击试验箱参数冷热冲击箱

型号： WDCJ/2-150

产地：北京

品牌：雅士林

¥1万 - 5万

参考报价

联系电话

恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱恒温恒湿箱型号

型号： DHS- 100

产地：北京

品牌：雅士林

¥1万 - 5万

参考报价

联系电话

方案详情：

该半导体芯片共进行了温度循环试验100次,每100次温度循环试验后对电路进行X射线检查,其中10只电路完成了全部的1000次温循试验，其他电路由于要进行破坏性的键合拉力和半导体芯片剪切力试验，温循次数依次递减。X射线检测按照GJB548B的相关要求进行，由于该电路采用平行封焊I艺，因此在X射线检测中仅针对芯片的空洞缺陷进行检查。

高低温冲击试验箱1.jpg ‍

　　冷热冲击试验箱过程中由于封装材料间的热膨胀系数不样，在温度变化过程中材料间的接触面可以因热膨胀系数的差异产“生剪切应力,当剪切应力作用试验足够长、应力足够大时，可以对产品的结构产“生影响温度循环试验可能造成芯片粘接空洞的扩大，造成产品芯片粘接强度的降低，影响产品的使用可靠性。从试验前后X射线检测图片对比可以看到，该电路在1000次温度循环试验前后的空洞缺陷没有出现扩大恶化的情况，试验前后的空洞面积基本致参考芯片剪切强度测试结果，芯剪切强度未出现明显的退化。说明在经过1000次温度循环后，产品的结构和可靠性没有出现异变，测试结果均满足标准的要求。

　　将封装后的半导体芯片置于冷热冲击试验箱（150℃和-65℃工作室各15分钟，循环1000次）；经此循环后测试芯片电路性能。

下载本篇解决方案：

资料文件名：

资料大小

下载

冷热冲击试验箱主要测试半导体封装体热胀冷缩的耐久性.docx

154KB

免费下载