X射线能谱仪（EDS）

X射线能谱仪（EDS）
 新一代的QUANTAX能谱仪采用先进的 slim-line 技术，并可搭载不同有效面积的XFlash6探头。而且，依托于最新改进的超级数模双通道脉冲处理器，布鲁克又一次为能谱仪的操作性和功能性建立了新的标准。
利用以上最新科技，布鲁克第六代电致冷能谱仪为微米尺度甚至纳米尺度的微区分析提供了迄今为止最为快速和可靠的分析工具。
布鲁克第六代XFlash探测器
种探头面积可选
10, 30, 60 及 100 mm2 的探头面积可选，提供微量分析及纳米分析的理想解决方案
超高脉冲数据处理能力，保证最快的测量速度
新一代混合脉冲处理器，可处理数据能力：
输入计数率超过 1,500 kcps
输出计数率超过 600 kcps
最好的能量分辨率，保证最佳的轻元素和低能端分析
121eV limited edition
123eV ultimate
126eV premium
129eV standard
所有能量分辨率指标均优于 ISO 15632:2002 的要求
Slim-line技术：更高的计数率，更低束流下的分析
探头与样品的距离为业内最近，从而在SEM,FIB-SEM, 电子探针和TEM中获得最大的固体角
在TEM中具有业内最大的检出角
简洁的设计，探头小巧轻便
高精密的轴动设计配合集成马达，使得定位更精确
改进的散热片结构，使得测量氛围更稳定
探测器重量不超过 3.75 kg
XFlash6 for SEM
布鲁克提供和扫描电镜（SEM）、聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）、及电子探针（μ-probe）均能完美搭配的完整产品系列。XFlash6 | 10 及 6 | 30涵盖绝大部分应用领域，包括高束流分析、低电压（纳米）分析和低真空分析。而XFlash6 | 60 和 6 | 100 则适用于一些不常见应用领域，包括低束流分析和对束流极其敏感的样品。
XFlash6 | 10 –最佳能量分辨率SDD
10 mm2 探测器具有分辨率Mn Ka 121 eV –业内最好的能量分辨率；
卓越的轻元素及低能端定性定量功能。
XFlash6 | 30 –效率超高的全面分析能手
中型探头面积30 mm2 SDD，专门为纳米分析及高计数率谱图成像设计；
实现与高速度EBSD的完美搭配。
XFlash6 | 60 –大面积SDD，纳米分析专家
60 mm2 SDD 适用于低束流分析；
理想的分析能力，专为纳米颗粒、生物样品分析设计。
XFlash6 | 100 –最大的探测面积，为低束流应用而生
100 mm2 有效面积，解决一些特殊测试需要；
低束流扫描电镜SEM（特别是冷场发射扫描电镜）和敏感样品的理想选择。
XFlash6T for TEM
BrukerXFlash6T –实现在 TEM 和 S/TEM 中最大的固体角，最大程度的减少了对电镜在机械和电磁方面的干扰。提供最优的检出角，避免不必要的样品倾斜。
XFlash6T | 30 –首台适用于像差校正透射电子显微镜的SDD
利用30mm2晶体进行全方位TEM能谱分析的多面手

XFlash6T | 60 –固体角最大的SDD，为埃米级别透射电子显微镜分析而生
60 mm2有效面积，专门适合分析中只有极低X射线产额的情况