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全反射X射线荧光光谱仪的工作原理(TXRF)
X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理:原子受原级X射线激发后,发出次级X射线荧光。因此,XRF 分析法可以:
根据荧光的波长和能量,确定元素;
各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算。
X射线由Mo靶或W靶产生,在Ni/C人工多层膜上反射并单色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射装有样品的样品架,并产生全反射。样品所产生的特征荧光被能量色散探测器(XFlash® detector) 探测,强度通过偶合的多通道分析器测量。
与常规的XRF最大的不同,全反射荧光(TXRF)是使用了单色光和全反射光学部件。以全反射光束照射样品,降低了吸收、以及样品及衬底材料对光的散射。结果是大大降低了背景噪音,因此有高的多的灵敏度和明显地降低了基体效应。
全反射荧光(TXRF)的最主要优点是,相对于其他原子波谱分析法,如AAS 或 ICP-OES,无记忆效应。
全反射荧光分析法,样品必须制备在能全反射X射线的样品架上。因此,样品架的直径30mm,材料通常是丙烯酸或石英玻璃。
液体样品直接滴在样品架上,通常是使用微量移液管转移几微升(µl)试液到样品架上。然后在干燥器里蒸发或在烘箱中干燥。
固体样品,有不同的制样方法。粉末样品(悬浮质、土壤、矿物、金属、色素、生化样品,等等)可以把样品直接放在样品架上直接测量。典型的方法是,使用小勺或无尘纸转移几微克(µg)的样品到样品架上。
单个的微量样品(颗粒,长条等)也可以用类似的方法直接制样。
另外,粉末样品可以使用挥发性溶剂如丙酮或甲醇制成悬浮液,悬浮液用移液管转移到样品架上,还可以使用微波消解的办法。
元素范围: Mo靶激发 Al to U (除Nb to Ru之间的元素)
W靶激发 K to U
含量范围: ppb to 100%
检出限:< 10 pg Ni (Mo靶激发)
< 2 pg Ni (Mo靶激发高效模式)
样品类型:液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、滤膜、擦拭物
企业名称
北京兄弟创合科贸有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
110106009261472
成立日期
2006-01-10
注册资本
5000000
经营范围
销售医疗器械。(有效期至2017年1月18日);技术开发、技术咨询、技术转让、技术服务;家居装饰;信息咨询(中介除外);销售:机械设备、建筑材料、金属材料、日用品、五金交电、化工产品(不含一类易制毒危险化学品)、计算机及辅助设备、电子计算机软件(电子出版物除外)、汽车配件、仪器仪表、办公用品、医疗器械(限一类);劳务服务;物业管理;货物进出口;技术进出口;代理进出口;维修实验室设备。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
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北京市海淀区西直门北大街32号枫蓝公寓A座503
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