使用Nirquest鉴别电路卡组件污染物

2014-07-21 09:49

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资料摘要：

近红外分光学被用于一系列应用：从测定农产品的质量到研究宇宙新形成星体的成分。当近红外与多变量校准技术结合的时候，就成为有力的分析工具。一个单独的近红外光谱指纹图可以提供样品的详细信息。在本应用说明中，NIRQuest512型近红外分光计被用于测定电路卡组件（CCA）污染物的特性，最终，查明CCA故障的根本原因。

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