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核心参数
光谱范围： 可见
按探测器： CCD
产地类别： 进口
光谱范围： 无
分辨率： 无
灵敏度： 无
信噪比： 450:1；250:1；450:1
动态范围： 无
杂散光： 无
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TMS-PRO和TMS-D能快速准确地测量各类手机及Pad面板的透过率，可用于同一面板多个小孔测量，实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率等。
TMS-PRO（单通道） TMS-D（双通道）
仪器特点：
采用大角度采集全穿透式测量
采用数字视频对焦，使微小区域实现精准测量
实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测，自动调整显示坐标范围，可对批量样品进行高效检测及谱图对比分析
可自定义测量方案，设置判定标准，自动判定“OK”和“NG”，使检测更快速，结果更准确
高性能探测器，单次测量小于1秒，重复性高
可对多孔进行快速测量
最小测量孔径可达φ0.3mm
应用范围：
手机面板IR孔、隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量
弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量
太阳膜、滤光片光学元件透光测量
功能特点：
可测双孔定位 可调极小样品检测 样品平台可XY微调
数字相机视频对焦
智能化出结果
质量检验
用户可以自定义质量检测项目，实时检测和判断任何波长的数据，并显示OK或NG，使检测更快，操作更方便。
技术参数：
型号 | TMS-PRO | TMS-D-Ⅰ | TMS-D-Ⅱ | |
|---|---|---|---|---|
| 测量系统 | 全光谱 | 全光谱 | 全光谱 | |
| 检测器 | Hamamatsu薄型背照式CCD | Sony线形CCD 阵列 | Hamamatsu薄型背照式CCD | |
| 检出限 | 0.05% | 0.1% | 0.05% | |
| 光度准确性 | 0.5% | 0.5% | 0.5% | |
| 光度重复性 | 0.2%（420~950nm） | 0.5%（420~950nm） | 0.2%（420~950nm） | |
| 波长检测范围 | 380-1100nm | 380-1000nm | 380-1100nm | |
| 信噪比（全信号） | 450:1 | 250:1 | 450:1 | |
| 波长重复率 | 0.1nm | |||
| 样品测试平台 | X、Y轴可调 | |||
| 光源 | 高功率卤素光源 | |||
| 光斑直径 | ＞0.2~1mm（可选） | |||
| 样品大小 | ≥0.3mm | |||
| 测量时间 | ＜0.2s | |||
| 对焦方式 | 数字相机视频对焦 | |||
| 物镜 | 10X | |||
| 软件 | Qspec Suite V1.0，可显示单、多点波长数据，可手动和自动保存数据，自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出，超差报警提示，可根据用户标准校准机差。 | |||
操作系统/接口 | Windows 7~Windows 10/USB2.0 | |||
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