为更好地服务全国的科研用户,为全国高校、研究所的科研工作提供技术保障,为植物表型科研领域研究人员更深入地了解最新的产品及测量技术,上海泽泉科技股份有限公司将于2016年5月31日至6月7日分别在长沙、武汉、南京和北京四地举办2016泽泉科技植物表型技术服务周。会议内容包括AgriPhenoTM高通量植物表型平台介绍、叶绿素荧光技术——检测植物生理状态的有效探针、表型分析与LemnaTec表型系统的性状分析的应用、自动取样与种子质量控制解决方案、生理生态与田间表型分析的光学传感器应用、整幅图片的影响力—植物根系分析。
现向全国高校、研究所科研人员发出诚挚邀请,期待您的光临!上海泽泉科技股份有限公司将携手LemnaTec、 ALCI、 Force-A、 Phenotyping Screening走进实验室,竭诚为您服务,期待与您的交流与合作。
会议日程:
参会须知:
1、参会回执:请参会人员于5月27日前将参会回执(附件1)通过电子邮件发送至邮箱:alice.shi@zealquest.com,或传真发至021-32555117。
2、会议费用:参会免费。交通、食宿、旅游费用自理。
会务组联系方式:
1、 参会回执接收邮箱:alice.shi@zealquest.com;参会回执接收传真:021-32555117
2、长沙会场会务联系人:胡静,联系方式:13761793649
3、 武汉南京会场会务联系人:陈登科,联系方式:13761793751
4、北京会场会务联系人:王海锋,联系方式:13717821580
附件:
附件1:植物表型技术服务周 参会回执:http://www.zealquest.com/common/download.asp?module=upload&id=12397
附件2:植物表型技术服务周日程表:http://www.zealquest.com/common/download.asp?module=upload&id=12398
附件3:AgriPheno平台服务项目春季优惠通知:http://www.zealquest.com/common/download.asp?module=upload&id=12399
上海泽泉科技股份有限公司
2016年5月23日
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