X 射线衍射仪
正确选择 X 射线光学元件可以显著提高 XRD 数据质量,使定量和定性物相分析更容易,并避免忽视衍射图中的重要细节。
X 射线衍射 (XRD) 是对多晶样品(如粉末或块体材料)进行定量和定性分析的标准方法。很难识别材料中包含的所有物相,并量化每个物相的正确相对含量。这在多相体系中尤其如此,其中某些物相只占整个体系的百分之几。高数据质量、高分辨率和低背景噪音在这方面有很大帮助。Anton Paar 全自动多功能粉末 X 射线衍射仪 XRDynamic 500 是此类测量的完美选择,因为其专利的TruBeamTM 概念将无与伦比的数据质量和测量效率相结合。
TruBeamTM
TruBeam™ 是包括在数据质量和测量效率方面提供优势的硬件和技术的概念。360 或 400 mm 的测角仪半径大于粉末 XRD 仪器中的典型值,使得其拥有极高的测量分辨率。大半径的一个可能缺点是光束必须穿过大量空气,从而导致更高的背景,并由于空气散射和光束在空气中的吸收而降低强度。XRDynamic 500 独特的全真空光学单元解决了这个问题。
TruBeamTM 还具有所有光学元件的完全自动化功能,允许在同一实验中对具有不同发散狭缝尺寸、光束掩模和索拉狭缝的复杂测量进行设置。
动机
本报告中所述的测量目的是研究和可视化不同光学元件对 XRD 测量数据质量的影响有多大,以及如何影响检测痕量相的可能性。测试包含两种样品:
碳酸钙 (CaCO3) 与金红石 (TiO2) 混合物
碳酸钙与葡萄糖 (C6H12O6) 混合物
实验准备
实验分析
实验结论
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