颗粒体系可能非常复杂,但颗粒分析不一定复杂!安东帕提供了两种不同的技术,来表征从纳米到毫米范围内的颗粒。Litesizer 系列采用光散射技术来确定分散液中纳米颗粒和微颗粒的颗粒尺寸、zeta 电位、透光率、分子量以及折光率。PSA 系列使用激光衍射技术来测量分散液和固体粉末中微米和毫米范围内的颗粒尺寸。这两个系列共同为全面的颗粒特性分析提供了更大的可能性。
安东帕的 PSA 系列有着五十多年的历史。1967 年,世界首款激光衍射粒度分析仪 – 第一台 PSA – 研发完成。我们总共设计了 PSA 990、PSA 1090 和 PSA 1190 三个型号,用于测量悬浮液或固体粉末中的各种粒径。
多激光技术为您提供了广阔的粒径范围的测量。单激光器 PSA 990 的测量范围达到 0.2 μm 至 500 μm。为扩大测量范围,PSA 1090 和 PSA 1190 采用独特的衍射分析光学设计,包含多个激光器。PSA 1090 设计采用双激光器处理小至 40 纳米的颗粒,PSA 1190 则添加了第三个激光器,整个测量范围扩展到 2.5 毫米。
PSA 仪器是唯一可以在一台仪器中全面集成湿法和干法分散模式的激光粒度分析仪。这一独特设计使操作人员无需操作多个附件或进行手动调整。只需轻点鼠标,即可在湿法和干法分散模式之间切换,既节省了时间又避免了操作错误。在分散模式之间切换时,无需更换硬件、重新验证或重新校准光路的准直。
由于固体粉末容易结块而导致测量结果错误,所以通常很难测量固体粉末的粒度分布。干法分散技术 (DJD) 是安东帕的专利技术 (FR2933314),可有效分散且精确测量粉体颗粒。该创新设计采用一个空气压力调节器,可以根据样品特性快速轻松地调节气流。气流产生的剪切力将结块的颗粒分开,这样就可以测量单个颗粒的粒径。
安东帕的粒度分析仪完全符合 ISO 13320 标准,可以获得可追溯、准确和可重复测量结果的需求。激光器和光学试验台的独特设计确立了再现性高于 1 % 的市场标准。此外,独特的光学试验台设计使所有光学部件永久安装在铸铁底座上。确保即使在最恶劣的环境中操作也无需重新准直。因此,在粒度分析仪的整个使用期限内可保证精度、可再现性和稳定性。
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