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全新氪气（87K）方法直接测量薄膜材料的孔径分布
2010-11-17 09:08
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分享：资料摘要：
近期，美国康塔仪器公司(Quantachrome Instruments)在薄膜的孔径分布测量方面进行了大量研究，成功地将氪气方法用于孔径测量,建立全新的薄膜材料孔径测定方法。该方法已证明不仅适用于二氧化硅类的介孔薄膜材料，同时对表面氧化性的介孔材料均适用。
详情请咨询美国康塔仪器公司北京代表处，电话：800－810－0515.
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