SPD 2000为广泛的分析需求提供了解决方案,从常规的定性和定量分析,到残余应力分析,薄膜,质地,非环境分析,残余奥氏体定量分析,晶粒尺寸/晶格应变和结晶度计算。
SPD 2000的特点
多功能X射线衍射仪
有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器,微处理器可通过电脑串行接口控制
带有可旋转管的管罩,可以使用点聚焦或行聚焦
调焦Kα1单色器可以得到高亮度和分辨率
使用Max-FluxTM光学系统的平行光束光学
透射模式和反射模式之间可以自动转换
高精度,高速测角仪
适合Ag,Cr, Fe, Cu, Co , Mo 辐射的二级单色器
填充氙气的正比,闪烁计数器,线性或弯曲的位敏检测器(PSD)
非常规环境分析,低温或高温附件
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系统,在32位环境下进行数据处理和仪器控制
包括Rietveld精修的晶体结构软件