JPK原子力显微镜(AFM/SPM)

仪器简介：

德国JPK公司（)生产的NanoWizard^®原子力显微镜专注于软物质与生物科学领域的，高解析成像，其度独特的设计方式提供了从微观光学显微镜观测到纳米尺度高清晰成像的完美衔接，同时与传统设计方法不同的是JPK公司的设计方式使得光学显微镜观测性能与原子力显微镜的测量性能都不受影响，使得高分辨、原位、动态的原子力成像研究更加便捷。


NanoWizard^®原子力显微镜可实现高清晰的大气或溶液相成像、进行单分子或者细胞的拉力实验、进行精确的纳米操控与刻蚀。100×100×15微米的扫描范围适用于生物细胞等大体积的样品，且平板扫描器规避了管式扫描器的缺点，采用电容式位置传感器实现xy平面精确的定位。扫描器的设计方式兼容所有的显微镜的工作模式，如亮场、暗场、荧光等。采用探针扫描方式与防水设计，保证了在实验过程中压电陶瓷的安全。人性化的软件设计使得操作更加方便、快捷、准确，且可通过脚本实现特定的实验需要。

技术参数：

1.   采用PI平板压电扫描器，无管式压电管的bow效应，能同时进行光学显微镜与原子力显微镜量测
2.   最大扫描范围：100×100×15微米（闭环）
3.   探针扫描设计，液相量测情况下不会损坏压电陶瓷
4.   分辨率：云母晶格图像（接触模式、高解析模式）
5.   针尖定位噪声水平（RMS） 
      大气条件下：垂直方向小于0.08nm，水平方向小于1nm（闭环）； 
      液相条件下：悬臂偏移小于0.3nm（弹性系数0.03N/m，温度20摄氏度）
6.   最先进的电容式探针位置传感器，全程xy扫描线性化达0.03％，保证探针的重复定位与长时间稳定定位
7.   智能马达进针，漂移跟踪设计消除样品加热膨胀的影响
8.   xyz三轴扫描方向硬件线性化设计提供了高端的量测性能
9.   采用850nm波长激光源，不会影响匹配倒置光镜的光学量测
10. 探针弹性系数的热噪声方法自动校正

主要特点：

工作模式
1. 包括接触、侧向力、动态模式如间歇式接触模式、非接触模式、相差、拉力力谱、力成像、导电AFM等所有AFM标准模式，亦能进行纳米刻蚀、纳米操控，细胞与基底或者细胞间相互作用力谱实验
2. 所有操作可在特定气体、大气和液相（如生理缓冲液等）
3. 化学稳定的探针夹具，由石英玻璃与镀金的不锈钢弹性片组成，夹具可进行超声、表面活性剂、酸以及溶剂超声清洗
4. 先进的拉力力谱设计，可用于单分子、生物膜、黏附与弹性量测等研究
5. 量测中可在100微米×100微米进行扫描范围的快速任意选取
6. 可扩展成100微米长程z轴（CellHesion Development Kit）用于细胞黏附的研究，以及针尖增强光谱（TAO Module，原子力－光学联用系统）
7. QI™(Quantitative Imaging) mode ()

光学性能
1. 所有主流研究级倒置光学显微镜（Zeiss、Olympus、Leica、Nikon）可匹配JPK扫描头
2. 与AFM匹配的光学性能如亮场、暗场、相差、荧光、DIC、CLSM、TIRF、FRET等所有使用功能不会降低、同时AFM性能亦可完全使用

样品台
1. 稳定的机械设计方式承载扫描样品与AFM扫描头
2. 最大样品尺寸：直径14cm，高2cm
生物型
    适用于倒置光镜的透光照明模式（相差、DIC等）
    适用于标准载具如培养皿（至55mm）、载玻片、盖玻片等
    适用于高NA值的物镜
标准型
    对于非透明样品可使用正置蔡司荧光显微镜
    适用于标准载具如培养皿（至75mm直径）、载玻片等
    足够空间放置JPK或客户自制液相池
    样品磁性固定

环境控制配件可供选择
可根据用户需要配置手套箱

部分客户发表的papers：