北京光学影像测量仪

北京光学影像测量仪是我公司生产的精密影像测量仪系列，具有功能强大、性能稳定、精度高、操作简单、维护方便等特点。可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化，并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中，以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。方便测量前角、后角、螺旋角、齿隙角等专用刀具角度，还可以进行基本几何测量（圆直径、长度、刃宽、芯厚、粗糙度等）。

1．  型号规格：HK-EVM-1510A

2．  主要技术指标：

2.1测量范围：X=150mm，Y=100mm，Z=150mm

2.2金属台尺寸(mm)：354×228

2.3玻璃台尺寸(mm)：210×160

2.4外型尺寸L*W*H：X=540mm，Y=560mm，Z=850mm

2.5仪器重量：100kg

2.6 X.Y坐标示值误差≤(2.5+L/200)μm(L为被测长度单位:mm)

2.7分辨率：0.0005mm

2.8最大承受重量：30kg

2.9环境要求：

l  温度范围：20±5℃，0.5℃/h

l  湿度范围：45%-65%

l  电    源：220V(AC) ，50Hz ，30W

l   产品参数：

l   u  变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X~4.5X，视频总放大倍率40X~400X连续可调，物方视场：10.6-1.6mm，按客户要求选配不同倍率物镜。

l   u  摄像机：配备低照度SONY机芯1/3′彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。

l   u  底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。

l   u  光栅尺：仪器平台带有高精度光栅尺（X,Y,Z三轴），解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。