当下CT系统多专注于三维成像,随着原位实验需求与日俱增,静态3D结果已无法满足科研和工业需求。TESCAN显微CT不仅可实现多尺度的高分辨(亚微米)、高通量三维成像,也可进行长时间连续扫描(几百小时)以及快速“4D”动态成像。
由仪器信息网主办的第二届无损检测技术进展与应用网络会议将于2023年9月26-27日召开。会议期间,TESCAN资深应用工程师袁明春将分享报告《TESCAN Micro-CT系统及原位动态4D应用介绍》,展示如何使用动态CT对原本无法观测的连续变化或只能模拟仿真的实验实现实时观测。
欢迎大家报名听会,在线交流。
附:参会指南
为推动我国无损检测技术发展和行业交流,促进新理论、新方法、新技术的推广与应用,仪器信息网定于2023年9月26-27日组织召开第二届无损检测技术进展与应用网络会议,会议设置四大专场,邀请领域内科研、应用等专家老师围绕无损检测理论研究、技术开发、仪器研制、相关应用等展开研讨。
1、进入第二届无损检测技术进展与应用网络会议官网(https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/ndt2023/)进行报名。
扫描下方二维码,进入会议官网报名
2、报名开放时间为即日起至2023年9月25日。
3、会议召开前一周进行报名审核,审核通过后将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。
4、本次会议不收取任何注册或报名费用。
5、会议联系人:高老师(电话:010-51654077-8285 邮箱:gaolj@instrument.com.cn)
6、赞助联系人:周老师(电话:010-51654077-8120 邮箱:zhouhh@instrument.com.cn)
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