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产地类别: 进口
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→ 适合于高速、高分辨率测量位移和距离 → 纳米级分辨率
→ 特别适合自动化行业和生产控制 → 工业级控制器,出色的信噪比
→ 几乎不受被测物表面反光特性的影响 → 探头不含主动电子元件
→ 极小的稳定测量光斑 → 优势:适合工业化大批量检测需要
实际应用中各种被测表面的高精度位移和距离测量源于光谱共焦测量原理,用户可以实现超高精度位移和距离测量--同时适用于漫反射和镜面被测物。超小的测量光斑可以识别微小的几何尺寸和结构。同轴测量光路避免了阴影遮挡带来的问题,使光谱共焦位移传感器可以用于窄缝和深孔。采用90°出光版本光谱共焦传感器,客户可以测量深孔或凹槽内壁几何尺寸。透明物体单侧厚度测量源于光谱共焦测量原理,用户可以从一侧测量透明物体的厚度。仅用一支光谱共焦位移传感器,用户可以获得微米级别测量精度。控制器预存可编辑,可扩展的材料库。材料的光学特性,如折射率可以通过网络界面存储和编辑,无需安装额外软件。多峰值测量允许最多6个峰值,可以测量多层被测物(如夹层玻璃)的厚度。高分辨率和高测量速度光谱共焦控制器提供出色的信噪比,确保高精度测量。作为全球目前最快的控制器之一,德国米铱光谱共焦位移传感器特别适合高动态检测任务。快速表面补光技术可以快速调节光谱共焦传感器的曝光时间,以实现对于反光特性快速变化表面的稳定测量。输出端口包括RS422, Ethernet或EtherCAT以及模拟量输出。使用简便的网络界面源自客户友好的网络界面,光谱共焦位移传感器全部配置过程无需额外软件。网络界面可以通过Ethernet连接,提供设置和配置选项。材料特性被存储于可扩展材料数据库中。
企业名称
德国Micro-Epsilon
企业信息已认证
企业类型
信用代码
/
成立日期
2001-01-20
注册资本
1000
经营范围
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