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薄膜厚度及三维影像测量仪

品牌: 科美仪器
产地: 韩国
型号: ST5030-3DT
报价: 面议
产品介绍

400-860-5168转0745

仪器简介:

ST5030--3DT薄膜厚度及三维影像度测量仪可以用于测量物体表面细微的三维影像
从而计算出表面凹凸物的高度,而且还有测量硅片(或玻璃)上精密薄膜的厚度
(如SiO2、SiNx、Poly-Si、Photo-Resist等膜层)的功能。



技术参数:

  

活动范围  300mm x 300mm
测量范围 100Å~ 35㎛
光斑尺寸 40㎛/20㎛,4(option)
测量速度 1~2 sec./site (fitting time)
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质: SiO2 , Si3N4 , TiO2 , ITO, ZrO2 , BTS, HfO2
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 
Intended for Large Size Wafer Measurement
选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
接物镜转换器 三目探头
焦点 Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
附带照明 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer


主要特点:

 

尺寸 500 x 750 x 650 mm
重量 80Kg
类型 自动
测量型号 ≤ 4"
测量方法 无连接的
测量原理 反射计
特征 测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
优秀的重复性和再现性
2D/3D 映射和造型
自动机械活动控制
电荷耦合器件照相机
自动调焦

 

工商信息

企业名称

微纳立方科技(北京)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

110105031497843

成立日期

2021-07-19

注册资本

500

经营范围

技术咨询、技术转让、技术推广、技术服务、技术开发;软件开发;计算机系统服务;数据处理;基础软件服务;应用软件服务(不含医用软件);技术进出口、代理进出口、货物进出口;维修计算机;租赁计算机;销售电子产品、仪器仪表、计算机、软件及辅助设备。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)

联系方式
微纳立方科技(北京)有限公司为您提供科美仪器薄膜厚度及三维影像测量仪ST5030-3DT,科美仪器ST5030-3DT产地为韩国,属于X射线荧光测厚仪,除了薄膜厚度及三维影像测量仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多X射线荧光测厚仪,微纳立方客服电话400-860-5168转0745,售前、售后均可联系。
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