SR系列薄膜分析产品来自美国AST公司,其可以实现薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的测量,同样对于材料NK参数也可以实现测量,为人们针对薄膜进行分析提供了极大便利。
产品详情:
基本功能 | 1,测试单、多层透光薄膜的厚度、折射率以及吸收系数 |
产品特点 | 强大的数据运算处理功能及材料NK数据库; |
系统配置 | 型号:SR100R |
波长范围:250nm到1100 nm | |
可选配件项 | 用于传递和吸收测量的传动夹具(SR100RT) ) |
主要应用于透光薄膜分析类领域:
1 玻璃镀膜领域(LowE、太阳能…)
2 半导体制造(PR,Oxide, Nitride…)
3 液晶显示(ITO,PR,Cell gap...)
4 医学,生物薄膜及材料领域等
5 油墨,矿物学,颜料,调色剂等
6 医药,中间设备
7 光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... ..
8 半导体化合物
9 在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜
10 非晶体,纳米材料和结晶硅
企业名称
微纳立方科技(北京)有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
110105031497843
成立日期
2021-07-19
注册资本
500
经营范围
技术咨询、技术转让、技术推广、技术服务、技术开发;软件开发;计算机系统服务;数据处理;基础软件服务;应用软件服务(不含医用软件);技术进出口、代理进出口、货物进出口;维修计算机;租赁计算机;销售电子产品、仪器仪表、计算机、软件及辅助设备。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
微纳立方科技(北京)有限公司
公司地址
朝阳区酒仙桥东路9号A2-西七层
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