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微纳立方科技(北京)有限公司
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产品介绍
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产品简介：
使用K-MAC公司的先进光谱系统，可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口，并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建，而测量过程也仅需要基础的电脑知识。
产品特征：
1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
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联系方式
微纳立方科技(北京)有限公司
公司地址
朝阳区酒仙桥东路9号A2-西七层
客服电话
400-860-5168转0745
微纳立方科技(北京)有限公司为您提供科美仪器ST2000光学薄膜测厚仪，科美仪器ST2000产地为韩国，属于白光干涉测厚仪，除了ST2000光学薄膜测厚仪的参数、价格、型号、原理等信息外，还可为您提供更多白光干涉测厚仪,微纳立方客服电话400-860-5168转0745，售前、售后均可联系。
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公司名称： 微纳立方科技(北京)有限公司
公司地址： 朝阳区酒仙桥东路9号A2-西七层 联系人： 彭工 邮编： 100015 联系电话： 400-860-5168转0745
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