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ST4000光学薄膜测厚仪

品牌: 科美仪器
产地: 韩国
型号: ST4000-DLX
样本: 下载
报价: 面议
产品介绍

产品简介:

  • 标准模式
  • 工业规格
  • 适合科研中心 

 

 尺寸  500 x 610 x 640 mm
 重量  45Kg
 类型  手动的
 测量样本大小  ≤ 8", 12"
 测量方法  无连接的
 测量原理  反射计
 特点
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
Print Function of Each View & Data Saving
 活动范围  200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
 测量范围  100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
 光斑尺寸  40㎛/20㎛, 4㎛(option)
 测量速度  1~2 sec./site
 应用领域  All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
 Intended for Wafer Measurement & OLED
 选项
 Programmable Auto Z Stage
 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
 焦点  Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
 附带照明  12v 100W Halogen Lamp
工商信息

企业名称

微纳立方科技(北京)有限公司

企业信息已认证

企业类型

信用代码

110105031497843

成立日期

2021-07-19

注册资本

500

经营范围

技术咨询、技术转让、技术推广、技术服务、技术开发;软件开发;计算机系统服务;数据处理;基础软件服务;应用软件服务(不含医用软件);技术进出口、代理进出口、货物进出口;维修计算机;租赁计算机;销售电子产品、仪器仪表、计算机、软件及辅助设备。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)

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微纳立方科技(北京)有限公司为您提供科美仪器ST4000光学薄膜测厚仪ST4000-DLX,科美仪器ST4000-DLX产地为韩国,属于白光干涉测厚仪,除了ST4000光学薄膜测厚仪的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多白光干涉测厚仪,微纳立方客服电话400-860-5168转0745,售前、售后均可联系。
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