探索创新纳米科技前沿 | 2023布鲁克大型用户研讨会在京召开！

8月28日，布鲁克（Bruker）大型用户研讨会在北京成功举办。会议聚焦“探索创新纳米科技前沿”，吸引来自高校、科研院所等近百位专家学者参加，共同探讨前沿纳米科学仪器技术和相关应用，推动纳米科技创新发展。

会议现场

本次会议特别邀请丹麦奥胡斯大学跨学科纳米科学中心董明东教授、布鲁克纳米表面部BioAFM业务部总监Heiko Haschke博士、南京大学物理学院曹毅教授、布鲁克纳米表面部AFMi NanoIR和Nanoindentation业务部门高级总监Thomas Mueller博士、中国科学院大连化学物理研究所范峰滔教授、中国科学院沈阳自动化所苏全民教授、国家纳米科学中心裘晓辉研究员、布鲁克孙万新博士等分享报告，介绍各自在纳米技术创新和技术发展方面的研究成果和应用案例。

布鲁克纳米表面与量测部亚太区销售总监时晓明出席会议并致辞

布鲁克纳米表面与量测中国区资深售后经理孙昊博士介绍售后资源

丹麦奥胡斯大学跨学科纳米科学中心董明东教授

报告主题：Unveiling the Nanotribological Behavior of Two-Dimensional Materials

董明东教授在报告中介绍了二维材料纳米摩擦行为相关研究成果。董明东教授团队利用原子力显微镜（AFM）研究了空气、液体环境在滑动摩擦过程中小分子的动态行为，以及它们对二维材料摩擦特性的影响，揭示了吸附小分子对单层石墨烯摩擦滞后性的影响；此外，探索了表面吸附小分子对四种过渡金属二硫化物材料纳米尺度摩擦特性的影响，突显晶格图案和摩擦力的变化，结果显示表面吸附小分子对二维材料摩擦特性的影响，并强调表面清洁的重要性。

布鲁克纳米表面部BioAFM业务部总监Heiko Haschke博士

报告主题：From Single Molecules to Tissue and Dynamics: Applications of Multiparametric Correlative BioAFM

Heiko Haschke博士在报告中讲述了生物型原子力显微镜（BioAFM）高速成像的原理和应用，以及如何通过AFM高速成像与先进的超分辨光学相结合，充分利用免疫标记技术的优势，实现真正的关联显微镜观察；展示了有多种选择的扫描器如何将光学图像拼接和AFM多区域成像相互结合，实现在大范围上对软样品进行多参数力学特性表征，并提供额外的光学信息；此外，还介绍了可用于单分子、细胞和组织尺度力学测量的全新独特力谱测量方案。

南京大学物理学院曹毅教授

报告主题：Single-molecule Force Spectroscopy: A Tool to study molecular interactions

曹毅教授从实验设计、表面修饰和数据分析等多个方面讲述了如何把原子力显微镜作为一种强大的工具，在单分子水平研究机械力化学；重点介绍了团队最新研究成果，即使用单分子力谱技术研究一些代表性机械力化学反应，揭示其重要的分子机制。

布鲁克纳米表面部AFMi NanoIR和Nanoindentation业务部门高级总监Thomas Mueller博士

报告主题：Novel combinations of NanoIR spectroscopy and quantitative AFM models for elucidating nanoscale chemistry-structure-property relationships in real-world samples

布鲁克新推出的Dimension IconIR系统将AFM-IR的先进光谱技术与Dimension Icon平台的高性能相结合，提供了更高灵敏度的纳米红外光谱，可在同一位置将纳米红外光谱与定量纳米力学、电学信息相结合，包括PeakForce KPFM和AFM-nDMA模式进行功函数和粘弹性测量。Thomas Mueller博士在报告中展示了如何该技术在半导体上纳米污染物检测方面的应用，以及在多种工业样品上的测试结果。

中国科学院大连化学物理研究所范峰滔教授

报告主题：太阳能光催化微观动力学成像研究

范峰滔教授团队利用具有高空间分辨率的表面光电压谱方法对光催化剂颗粒上电荷分布在nm/µm尺度上进行定量研究，揭示了有效电荷分离产生内建电场的矢量叠加效应，提出了通过非对称调节策略管理电场，精准分配催化剂反应位点的内建电场，进而提高光催化表现，进一步发展了时空分辨的表面光电压技术用于在单粒子水平上绘制飞秒到秒级时间尺度上的整体电荷转移过程，并发现了超快热电子转移和各向异性捕获的新过程。

中国科学院沈阳自动化所苏全民教授

报告主题：Nanoscale Metrology and Its Enabling Role in Advanced Manufacturing

苏全民教授在报告中重点介绍了扫描探针显微镜（SPM）及其在计量学和制造过程中日益凸显的重要性，并详细讨论了从亚纳米到亚米级跨尺度计量的应用需求和技术，和基于SPM的多尺度物理和化学分析的进展。

国家纳米科学中心裘晓辉研究员

报告主题：Probing Friction Anisotropy at the Incommensurate Interface of van der Waals Heterostructures

MoO3纳米片和石墨都具有原子级平整表面和范德华层状结构，AFM操纵技术可以实现MoO3纳米片的特定旋转和平移，从而能够测量不同情况下的界面摩擦。裘晓辉研究员团队研究揭示了一种由扭转角度决定的摩擦行为，即摩擦力由MoO3相对于石墨表面的晶格方向决定；发现摩擦力与纳米片尺寸之间存在次线性关系，这表明MoO3纳米片的边缘在界面摩擦中起着主导作用；基于结合能的分子动力学模拟证实，观察到的各向异性摩擦源于MoO3纳米片的边缘而非内部接触区域。

布鲁克孙万新博士

报告主题：Electric Characterization on Nano Materials and Devices

孙万新博士主持会议并分享报告。在报告中，孙万新博士主要通过一系列示例讨论了基于SPM技术在纳米材料表征中的机遇和挑战，包括静电力显微镜（EFM）、开尔文探针显微镜（KPFM）、压电力显微镜（PFM）、扫描微波阻抗显微镜（sMIM）、电流成像等。

现场讨论

本次会议内容获得了参会代表的肯定和一致好评。8月29日，布鲁克还安排了纳米表面与量测部实验室参观和培训交流活动，以进一步加深与专家学者们的交流，帮助用户开展研究工作。

参会代表合影留念