TSI公司将参加第十三届全国气溶胶会议

美国TSI公司将于2017 年11 月21－24 日参加在河北省石家庄市举办的第十三届全国气溶胶会议。本次会议由中国颗粒学会气溶胶专业委员会主办，河北工程大学承办，中国颗粒学会、中国科学院地球环境研究所、中国科学院大气物理研究所、国际空气与废弃物管理学会中国学会、北京粉体技术协会协办。旨在交流我国气溶胶领域的最新研究成果，搭建气溶胶领域产学研学术交流平台，提升我国气溶胶研究水平。美国工程院院士/明尼苏达大学David Y. H. Pui 教授和中国科学院地球环境研究所曹军骥研究员担任本次会议共同主席，本次会议规模约 400 人。

美国TSI公司于会上针对大气颗粒物的测量，展示了以下多种气溶胶检测技术和设备。

TSI最新推出的SMPS™ 扫描电迁移粒径谱仪，被广泛用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。选配3777型纳米增强仪以及3086型DMA差分电迁移分析仪（1nm-DMA）组件后，SMPS粒径谱仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。

3321 空气动力学粒径谱仪(APS™) 提供 0.5 至 20 微米粒径范围粒子的高分辨率、实时空气动力学检测。这些独特的粒径分析仪还检测 0.37 至 20 微米粒径范围粒子的光散射强度。APS 粒径谱仪通过向同一粒子提供成对数据向有兴趣研究气溶胶组成的人士开辟了令人振奋的新途径。

TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便，能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI公司40年气溶胶仪器设计的经验，本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统，从而得到高质量和高精度的数据。同时，TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。该产品是广大环境研究机构和环境监测部门进行颗粒物监测分析和源解析的最佳仪器。

敬请大家届时光临美国TSI公司位于四美五洲国际酒店四楼的A12展位！