题目:利用互相关峰率量化PIV不确定度
演讲人:普渡大学 Pavlos Vlachos教授;
TSI 公司Stamatios Pothos 和 Aaron Boomsma 博士;
日期:2014年12月18日
时间:美 中央时区早上9:00 点(北京时间 晚10:00点)
在粒子图像测速系统(PIV)中,误差取决于PIV算法、用户设置、流动特征与实验装置。之前,PIV系统的误差分析是在理想或约束的实验与分析条件下建立的。然而,这些条件与随着时间空间变化的实验和流动实际条件不同。因此,误差及广义的PIV不确定度不能基于现有的误差分析。
John Charonko and Pavlos Vlachos博士发现PIV不确定度是与互相关信噪比密切相关。互相关信噪比的一个主要指标是第一峰率(PPR),PPR是互相关分析图上的第一高峰与第二高峰比值。总之,不确定度是与PPR呈负相关。
本次研讨会,Pavlos Vlachos教授将介绍量化PIV不确定度的方法及其在TSI Insight4G软件中的实现。
请您点击以下链接尽快注册参加此网上讲座:
https://www3.gotomeeting.com/register/269024462
更多
新品上市!TSI 全新AeroTrak®+便携式粒子计数器A100系列重磅发布!
新品
2023.03.28
TSI 推出全新先进的激光多普勒和相位多普勒系统
新品
2022.03.07
TSI 推出全新先进的激光多普勒和相位多普勒系统
新品
2021.12.17
TSI公司隆重推出新型8150在线生产自动滤料测试仪
新品
2021.06.03