时间：2008年4月23日 地点：苏州科技大学天平校区化工学院 内容：《热分析技术及其在材料科学中的应用》

时间:  2008年4月25日 地点: 北京市中关村南大街寰太大厦501会议室(理工大学对面) 内容:  1.常温DSC , 高温DSC示差扫描量热仪,        2.TGA/DTA 热失重/差热连用仪,          3.您非常感兴趣的: 热分析仪测量及曲线解析                            (热分析专家钱义祥老师)        4.TMA/SS 常温, 高温热机械分析仪, DMS动态热机械仪                        5.专利高速公路速率等软件及应用      

　　精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。                                    能量色散型X射线荧光分析仪 SEA6000VX 　　X射线荧光分析仪，因其便捷的操作性和分析的快速性，在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外，随着ELV指令、玩具规范以及RPF*1等等的无铅化、无卤化标准的建立，可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是，为了进一步提高测量的效率，并对应复杂的测量需求，现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量，以及线路板整体有害物质的管理等的需求，因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。 　　[SEA6000VX]大幅提升了灵敏度，实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源，更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm～10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量，现在即使在0.5mm～1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。 　　通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台，实现高速二维扫描。例如，对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中，仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数，大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量，从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。 　　此外，[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统，以及高精度的X-Y平台，进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。 　　精工电子纳米科技有限公司针对有害物质测量所开发生产的X射线荧光分析仪中，既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等，加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」，可广泛对应不同的测量对象。 　　【SEA6000VX的主要特点】 　　1. 高速扫描测量 　　通过结合了大幅提高的微小区域X射线荧光分析灵敏度和高速电动平台，能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描，配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。 　　2. 宽视野高清晰度光学系统 　　可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。从该光学影像可以直接精确指定测量位置，让操作性得到飞跃般的改善。此外，该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠，可在大范围内进行高精度分析。 　　3. 微小区域中微量金属的高速测量 　　实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器，加上充分考虑到X射线荧光检测效率的设计，实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。 　　4. 无需液氮的高计数率检测器 　　作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器，省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间，同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳，以及提高测量速度后节省下的电力等，是一款考虑到环保问题的先进仪器。 　　5. 微小区域的镀层厚度测量 　　可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外，也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。 　　【上市日期】 　　2008年6月17日 　　【后注】 　　*1 RPF 　　Refuse Paper & Plastic Fuel的简称。以难以再次回收利用的旧纸、废弃塑料等作为主要原料的固体燃料。

　　自从2006年7月以来，随着欧盟RoHS指令等规范的出台，以及2007年3月1日『电子信息产品污染控制管理办法』(中国版RoHS)的正式实施，各国对环境管制物质的规定、管理都愈加严格，而可对环境管制物质进行管理的X射线荧光分析仪也正被广泛应用于各个行业领域。 　　精工盈司电子科技(上海)有限公司为响应广大客户的需要，并希望能与各生产商直接面对面地共同探讨这个全球关注的话题，今年再次针对环境管制物质的管理与监控，特别是无卤检测方面的最新情况，以及在有害物质控管过程中使用到的X射线荧光分析仪的操作技巧及注意点等内容，于2008年7月18日与2008年7月22日分别在苏州及深圳举办了《环境管制物质对策研讨会暨新品发布会》。 　　 　　 　　同时，本次研讨会上更是与日本同步，发布了最新款的搭载了快速扫描功能的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]。 　　X射线荧光分析仪，因其便捷的操作性和分析的快速性，在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外，随着ELV指令、玩具规范以及RPF等等的无铅化、无卤化标准的建立，可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是，为了进一步提高测量的效率，并对应复杂的测量需求，现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量，以及线路板整体有害物质的管理等的需求，因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。 　　 　　[SEA6000VX]大幅提升了灵敏度，实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源，更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm～10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量，现在即使在0.5mm～1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。 　　通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台，实现高速二维扫描。例如，对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中，仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数，大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量，从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。 　　另外，[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统，以及高精度的X-Y平台，进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。 　　此次研讨会吸引到了华东华南地区百余家企业200余位品质管理、生产技术等相关部门的人员出席参加，其中不乏知名厂商及其外包商等，可见环境管制物质的管理工作已经受到相当大的重视，精工盈司也希望能够在各厂商进行控管的过程中提供支持，共同实现绿色生产。

        精工电子纳米科技有限公司（简称SIINT）继推出基于欧盟RoHS指令的专利检测分析仪器SEA1000A之后，又开发出了新一代能量色散型X射线荧光分析仪——SEA1200VX，其特点是无需液氮，具有世界最高灵敏度，更高分辨率的EDXRF，该产品将于2006年9月起在全球上市。         针对欧盟关于电器、电子设备的WEEE&RoHS和汽车行业的ELV指令，全世界各大品牌商皆指定使用能量色散型X射线荧光分析仪进行产品的快速筛查，由于EDXRF具有操作简便、无损测量的优点以及良好的灵敏度，从而被广泛地应用于有害元素的控管。但是随着全球针对RoHS指令要求日趋严格，测量样品成分的复杂化，测量样品数量的增加以及对微量成分测定的要求，因此世界各品牌大厂需要仪器具有高灵敏度、高精度、高效率的特性。         SEA1200VX采用了精工电子纳米科技有限公司（简称SIINT）自行开发的高计数率（具有检测大量X射线的能力）检测器——Vortex，从而具有更高的灵敏度和分辨率。由于SEA1200VX大幅度提高了灵敏度，因此即使对于测定组成复杂的样品，测量时间也被大大缩短了。另外，该仪器还具备在真空条件下测量轻元素的能力，因此可以对金属、矿物、玻璃、树脂等各种材料进行成分分析。         此外，SEA1200VX具有更人性化的软件操作模式，帮助初学者最大限度发挥仪器的性能；也可以按专业人员要求进行测量条件的详细设定。SIINT相关人士表示，高性能SEA1200VX的上市，不仅大幅度提高了对有害物质的测量能力，更扩大了能量色散型X射线荧光分析仪器的应用领域。

        日本精工纳米科技有限公司将推出一款全新用于测定微小区域的镀膜厚度及RoHS对象有害元素的最新产品——SFT9500，该产品将在全球同步上市。         对于镀膜的组成及其厚度的分析测定是保证半导体产品、电子部件、印刷线路板等产品的性能，质量及控制成本的不可缺少的基本方法。为适应产品的微型化及对镀膜的薄型化的需求，国际市场迫切地需要能够准确地测定纳米级的镀膜。同时，对这些微小区域内RoHS所指定的有害元素分析已成为不可缺少的环节之一。         作为荧光X射线技术的先驱，日本精工纳米科技有限公司成功地开发了测定微小区域的镀膜厚度及RoHS对象有害元素的最新产品——SFT9500。其特点为，采用先进的X射线聚光技术，使高辉度的0.1mmφ以下的X射线照射成为可能，同时，又彻底解决了由于照射强度的不足而引起的分析结果的准确度下降这一历史难题。同时搭载高计数率，高分辨率的半导体检测器，在测定镀膜厚度的同时，对于欧共体的RoHS＆ELV法规所定的有害元素分析测定也十分有效。