CPCA展览会是每年度在中国举办的电子电路行业中最具有影响力的专业展览会。无论是在展览会的规模、参展商的知名度，还是行业的认知度和观众数量方面，CPCA展览会都名列前茅。为了发掘新客户及强化与老客户的关系，我司近几年连续参展CPCA展览会，介绍主推产品以及新产品。 CPCA概要名称：第25届中国国际电子电路展览会（CPCA SHOW）主办：中国印制电路行业协会（CPCA）          上海颖展展览服务有限公司日期：2016年3月15日（星期二）~17日（星期四）展馆：上海国际博览中心地点：上海市浦东新区龙阳路2345（近7号线花木路站）展馆：E6馆展位：6E96入场费：免费官网：http://www.ying-zhan.com/ 出展仪器元素分析-EA1000AIII通过将可选项的精度管理软件进一步升级，并使成为标准配置，实现了低价格化。与以往的机型（SEA1000AII）相比较，平均检测时间缩短至1/3。材料辨识功能、清晰易懂的操作版面等易用性也大大提高。产品详细说明连接：http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ea1000aiii元素分析-FT110A自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代新产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上都有新的优化。产品详细说明连接：http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ft110元素分析- FT150L使用新开发的X射线光束用多毛细管的产品阵容诞生了。另外，以X射线检测结构为中心，对各类元件进行最优化，从而大幅度提高了检测灵敏度，在不损失检测精度的前提下实现了高处理能力。并且，对设备进行了重新设计，使得样本室的使用，以及对检测点的检查变得更为容易。产品详细说明连接：http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-ft150 物理分析-TMA7100与传统的TMA相比，灵敏度提高了2倍。由于采用无形状制约全膨胀方式，因此无论是薄膜或碎片样品均可测定。另外，只须更换探针就可以完成压缩，针入，拉伸等不同的测量模式。多样选择的冷却系统，将便利性和高精度测定结合在一起。产品详细说明连接：http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-tma7000 物理分析-DSC7000X差示扫描量热仪（DSC）产品群中的最高性能机型。搭载了「新型传感器」和「新型炉体」。多重热电偶设计，使灵敏度提升3倍（与本公司传统产品相比）；三层绝热壁与优化的加热冷却构造设计，有效控制了DSC基线变动。产品详细说明连接：http://www.hitachi-hightech.com/hig/product_detail/?pn=ana-dsc7000x 

　　2016 年1月6日由中华人民共和国工信部、发改委、科技部、财政部、环保部、商务部、海关总署、质检总局等8部门共同发布了《电器电子产品有害物质限制使用管理办法》（以下称“办法”，（即修订版中国RoHS）。    　该办法自2016年7月1日起施行，2006年2月28日发布的《电子信息产品污染控制管理办法》同时废止。 与修订前相比，此次中国RoHS的主要变化如下：法规名称电子信息产品污染控制管理办法（修订前）电器电子产品有害物质限制使用管理办法（修订后）公布 施行2006年2月28日公布2007年3月1日施行2016年1月6日2016年7月1日起施行适用范围对象产品为电子信息产品，在《电子信息产品的分类注释》中明确范围。（约有1450 种产品）对象产品为电器电子产品，额定工作电压为直流电不超过1500伏特、交流电不超过1000伏特的设备及配套产品。 →BtoB也包含在对象范围内，几乎涵盖了所有用电产品。   但是，涉及电能生产、传输和分配的设备和工业用大型产品除外。有害物质种类铅、水银、镉、六价铬、溴系阻燃剂（PBB、PBDE）6种物质 铅、水银、镉、六价铬、溴系阻燃剂（PBB、PBDE）6种物质→无变化对企业的要求事项第一步（标注义务）：①在对象产品本体上标注含有/不含有标识；②在产品说明书中，公开各部件的有害物质含量信息； ?具体请参考SJ/T11364-2006《电子信息产品污染控制标识要求》 第二步（含有限制）：纳入《电子信息产品重点管理目录》的产品要执行中国强制认证（CCC认证）第一步（标注义务）：②     对象产品本体上标注含有/不含有标识；②在产品说明书中，公开各部件的有害物质含量信息；→详细请参考SJ/T11364-2014　《电子电气产品有害物质限制使用标识要求》 第二步（含有限制）：纳入《电器电子产品有害物质限制使用标准达成管理目录》的产品按照电器电子产品有害物质限制使用合格评定制度进行管理。→纳入《目录》的产品由之前的强制认证变为由具有灵活性的合格评定制度管理。合格评定制度的详细内容日后将由工信部、认证认可监督管理委员会制定。 　　同时在中华人民共和国工业和信息化部的官方网站上刊登出了《关于〈电器电子产品有害物质限制使用管理办法〉解读》一文。文中就一些基本问题进行了解答。问：《办法》是在什么样的背景下制定的？答：2006年2月，原信息产业部等7部门联合制定了《电子信息产品污染控制管理办法》（原信息产业部等7部门令第39号，以下简称39号令）。39号令施行以来，有力推动了我国电子信息产品污染控制工作。　　近年来，随着我国电器电子产业的发展，39号令的相关制度逐渐凸显出一定的局限性，亟需进行修订。一方面，适用范围亟需适当拓宽。其他国家有关产品有害物质限制使用的立法，一般涵盖电子信息产品和包括家用电器等在内的其他产品。我国是电器电子产品制造大国，39号令仅规范电子信息产品的污染控制，没有覆盖冰箱、洗衣机等大量的电器电子产品，不利于全面保护环境和人体健康。同时，也导致部分企业使用两套标准组织生产，对出口国外的产品限制使用有害物质、对国内销售的产品却不采取相应的措施。根据我国电器电子产业发展的实际，借鉴其他国家的做法，需要拓宽《办法》的适用范围。另一方面，管理方式亟需完善。39号令对纳入电子信息产品污染控制重点管理目录的产品都实施强制性认证。但不同产品污染控制管理的要求不同，且电器电子产品升级换代的周期短，有些产品的淘汰周期甚至只有两三个月，全面实行强制性认证将延迟产品上市时间，不利于产品创新和产业发展。因此，需要调整39号令的有关管理方式，建立合格评定制度，完善管理机制。问：《办法》修订的过程是怎样的？答：2010年4月，工业和信息化部启动了39号令的修订工作。在修订过程中，我们主要开展了以下工作：一是组织研究机构深入研究了《办法》的适用范围、有害物质的种类和含量以及合格评定等主要制度。二是书面征求了地方工业和信息化主管部门的意见，赴地方工业和信息化主管部门和电器电子行业有关企业进行了调研座谈。三是征求了发展改革委、科技部等部门和有关行业协会的意见，与发展改革委、商务部、质检总局等部门进行了协调。四是向世界贸易组织进行了通报。五是通过“中国政府法制信息网”和部门户网站两次向社会公开征求了意见。结合相关方面的意见和建议，我们对《办法》进行了修改完善。六是提请工业和信息化部部务会议审议通过了《办法》。　　在上述工作的基础上，2016年1月6日，工业和信息化部、发展改革委等8部门联合公布了《办法》。问：《办法》修订的主要内容包括哪些方面？答：《办法》主要修订了如下内容：（一）扩大规章的适用范围并相应修改规章名称。《办法》将调整对象由电子信息产品扩大为电器电子产品，并将规章名称修改为《电器电子产品有害物质限制使用管理办法》。同时，《办法》对“电器电子产品”的含义作出了规定。（二）扩大限制使用的有害物质范围。《办法》借鉴欧盟RoHS指令和其他国家的通行做法，增加了限制使用的有害物质，将“铅”、“汞”、“镉”分别修改为“铅及其化合物”、“汞及其化合物”、“镉及其化合物”，将“六价铬”修改为“六价铬化合物”。（三）增加有关科技、财政政策支持的规定。《办法》规定：国家鼓励、支持电器电子产品有害物质限制使用的科学研究、技术开发和国际合作，积极推广电器电子产品有害物质替代与减量化等技术、装备。（四）完善产品有害物质限制使用的管理方式。电器电子产品有害物质限制使用采取目录管理的方式，由工业和信息化部商发展改革委等7部门编制“达标管理目录”，不再编制“重点管理目录”。同时，建立合格评定制度，对纳入“达标管理目录”的电器电子产品按照合格评定制度进行管理。合格评定制度由认监委依据工业和信息化部的建议并会同工业和信息化部制定。工业和信息化部根据实际情况会同财政部等部门对合格评定结果建立相关采信机制。问：下一步，围绕《办法》的实施还有哪些工作考虑？答：结合企业的意见和相关工作的实际，《办法》为企业留出了一定的过渡期，将自2016年7月1日起实施。在此期间，我部相关司局将抓紧做好有关的实施准备工作，通过解读材料、问答清单等方式进一步回应企业关注的问题，便于企业更好地理解和执行《办法》相关制度。 《办法》中文原文链接：http://www.miit.gov.cn/n1146285/n1146352/n3054355/n3057254/n3057260/c4608532/content.html《电器电子产品有害物质限制使用管理办法》解读中文原文链接：http://www.miit.gov.cn/n1146285/n1146352/n3054355/n3057254/n3057260/c4608743/content.html相关仪器请见：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/Product-C0705-0-0-1.htm 

　　巧克力能给人入口即化的甜蜜享受，人们喜欢把它作为表达爱情的礼物。这种丝般柔滑的感觉从何而来呢？答案是巧克力中添加的可可脂。可可脂由含有不同脂肪酸的甘油三酯组成，包括棕榈酸、硬脂酸、油酸和亚油酸，具有特殊的理化性质，随着温度升高，会在很短的温度区间(27-35℃)内迅速融化。                                  可可                                             可可脂                                            巧克力         为了得到入口即化的美味巧克力，巧克力生产商必须要借助于专业性的仪器 - 热分析仪来研究可可脂，调节它的含量及分散聚合，来获得最佳口感及保存特性。        此应用使用日立差示扫描量热仪（DSC）对生巧克力中固体脂量和温度之间的关系进行观测，DSC曲线(绿色)表示了巧克力融解产生的吸热峰，DSC积分曲线(蓝色)表示了融解的情况。                                                                    图. 巧克力的DSC分析曲线 　　日立差示扫描量热仪DSC7000系列配有新开发的优化技术“Z-stabilizer”，采用了最新的“中心热流型传感器”及新型加热炉，灵敏度高，基线稳定，冷却效率及温度跟从性高，并且有紫外固化装置、实时观察系统、自动进样器等丰富的扩展功能。能够应对从高分子、无机材料到药品、食品等各个行业的应用。 关于该解决方案的详细信息，请参考： http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/s549748.htm关于该解决方案及涉及到的仪器，请联系我司   021-50273533http://www.instrument.com.cn/netshow/C129963.htm 关于日立高新技术公司：　　日立高新技术公司，于2013年1月，融合了X射线和热分析等核心技术，成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术，精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新，因此公司变为日立高新的子公司，同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学，扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料，产品线更丰富的日立高新技术集团，将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/ 

　　为了检测RoHS、ELV和中国版RoHS(电子信息产品污染防治管理办法)中被限制使用的物质含量，可以进行无破坏快速分析的能量色散型X射线荧光分析仪被广泛使用。 日立仪器（上海）有限公司本着对使用的便利性、灵敏度和分辨率的执着追求而开发制造的能量色散型X射线荧光分析仪，从部件的入库到产品出库、可从各个方面对环境管制法规的内容进行管理。 适用于RoHS/ELV的理由一：能够进行无损检查　　能量色散型X射线荧光分析仪的最大特点是，无需进行前处理便可直接测量。日立仪器（上海）有限公司的能量色散型X射线荧光分析仪的样品室最大能够搭载370(W)x320(D)大小的样品。 塑料成品和笔记本电脑都无需拆解便可进行测量。  适用于RoHS/ELV的理由二：无需液氮　　由于搭载了无需液氮的检测器，也无需辅助作业。且无需担心液氮的消耗费用及添加时的安全问题。(EA1000AIII、EA1200VX、EA6000VX、FT9500等)。  适用于RoHS/ELV的理由三：大幅缩短测量时间　　日立仪器（上海）有限公司的能量色散型X射线荧光分析仪颠覆了以往的仪器，实现了高灵敏度测量。能够缩短测量时间，快速检测大批量的部件。结合精度管理型的「有害物质识别软件*」一起使用，进一步提高了测量效率。无电解Ni电镀中的Pb光谱图【测量样品】 Ni-P(Pb) 13μm/Al【测量条件】 测量面积：8.0mmφ、测量时间：100sec, 20sec、10次测量  适用于RoHS/ELV的理由四：使用便利的操作软件　　判断有害物质使用的「有害物质识别软件」，在感官上更容易被理解。测量结果用○×(日本以外地区用「OK」和「NG」)表示、然后会自动生成Excel格式的报告。即使没有分析专业知识的操作者也可放心使用。配备有中文、英文、日文、韩文等多种语言软件。         测量结果画面    针对玩具（EN71）的测量结果   报告生成画面  适用于RoHS/ELV的理由五：高难度测量、自动修正功能　　对于材料的形状和厚度对测量结果所产生的影响，及聚氯乙烯(PVC)测量时受卤素干扰的影响都可以进行修正，可获得稳定的测量结果。并且由于自带波峰分离软件，也能除去相邻元素的影响。                                                                                                                        氯乙烯(PVC)修正在用标准曲线法进行测量时，会因聚氯乙烯的浓度不同而造成测量值有很大变化。              Si(Li)检测器的能谱             数字波峰分离软件模拟图数字波峰分离软件模拟图              柔性PVC中含有大量Pb时                             200ppmHg的能谱。  适用于RoHS/ELV的理由六：还搭载了其他便利的功能1. 由于使用了自动进样器，最多可以连续测量12个样品。2. 作为广泛应用的分析装置，能够应用于广泛的分析领域。     对于环境保护的考虑1. 由于无需液氮，可以有效减少在液氮生产、搬运时产生的二氧化碳的排放量。2. 此外由于大幅提高了测量速度，可以让仪器运行更省电。  *有害物质识别软件事先设定一个允许的误差值，当测量的误差值小于设定的误差值时，测量将会自动结束。精度管理软件的组成                                               精度管理软件的构成 (上图：普通测量、下图：精度管理测量) 

葡萄酒品质的鉴别　　近年来，葡萄酒的年份标注虚假似乎是一个公开的秘密，一些厂商过分夸大年份酒的价值，想标注哪一年便随意编写，有的甚至在企业还没有建厂生产前就在产品上标注的年份。葡萄酒瓶子里根本没有数年前的葡萄汁，但葡萄酒产品动辄标注数年前生产，这一乱标年份、乱炒年份概念的现象在业内屡见不鲜，而消费者也因无从分辨真假成为“年份酒”的冤大头。然而，在葡萄酒业内一直有着“七分产地，三分工艺”的说法，但产地原料的来源却一直鱼龙混杂，一些葡萄酒在产地说明上语焉不详，无论是葡萄产地还是非产地，生产厂家都遍地开花。一些挂着国外品牌的葡萄酒，甚者只是把国外废弃的葡萄原汁勾兑成酒。目前我国市场上的干红葡萄酒几乎都称以优质红葡萄品种赤霞珠为原料，似乎我国种植的酿酒葡萄只有赤霞珠一种，而实际上我国酿酒葡萄除赤霞珠外，还有蛇龙珠、品丽珠等很多品种。　　新的《葡萄酒》（GB15037－2006）国家标准由国家质检总局和国家标准委发布，在2008 年1月1日起在生产领域里实施。新标准给出了年份葡萄酒、产地葡萄酒和品种葡萄酒的定义，定义中明确了各自含量的比例，这似乎为近些年葡萄酒行业热炒的3个概念画上了句号。但是，年份酒、产地酒和品种酒的检测，是目前国际、国内技术上无法解决的问题，新标准对年份酒、产地酒和品种酒的要求属强制性条款。技术上无法检测，又要求强制实施，企业该如何面对？达到标准的要求又有什么途径？ 　　日立仪器新推出响应GB15037－2006国家标准对应等离子发射光谱分析仪PS3500DDII系列，该ICP分析仪隶属日立高新科学技术有限公司旗下等离子发射光谱分析仪，其拥有全球第一的0.0003nm超高分辨率，130nm处短波长及紫外光观测，卤族元素测量，高灵敏度双分光器观测及工作气体使用量减半的节能系统等诸多优势能够完全对应和满足葡萄酒等饮料中微量元素的检测，使其在被制造或加工的过程中帮助葡萄种植，产地土壤和水质的分析，酒品制造，原料供应及加工企业的生产工艺改进，从中加强过程环节监控力度，让消费者购买及品尝的过程中体会到葡萄酒真正的品质。 解决方案请见：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/s548450.htm  

　　进入21世纪以来,全球汽车产业蓬勃发展,汽车报废数量亦相当惊人。然而报废汽车往往含有各种有毒有害物质,严重威胁人类的生命安全及其赖以生存的环境。欧盟是最早立法,建立报废汽车回收利用体系。此后,其他国家相继效仿,并推出相应的法规和报废汽车回收体系,以治理这些国家日益恶化的环境。这些新的法律法规对于新兴的汽车产业国家,是一个全新挑战。中国企业应积极采取措施,化解发达国家的绿色壁垒,抓住汽车产业迅速发展的机遇。           　 　　ELV（End-of-Life Vehicle）即报废车辆指令。 ELV为欧盟委员会和欧洲议会为保护环境，减少车辆报废产生的废弃物，制定了这个报废车辆回收指令。这些指令鼓励整车和部件制造商在设计产品时，考虑到再利用和回收事宜。其中含有两个目的，一是为了使2003年7月以后生产的汽车禁用铅、镉、汞和6价铬四种有害物，第二为提高报废汽车回收利用率，回收费用成本的全部或大部分由制造厂承担。回收指令确定了欧盟报废汽车“再使用与再利用”和“再使用与回收利用”的两个阶段及回收利用率目标，并明确说明了回收利用率的限值及禁止或限制使用的重金属，包括限制使用铅、汞、镉、铬 (VI) 等特定物质，以及在某些情形下溴化阻燃剂的使用，如多溴联苯醚 (PBDE) 和多溴联苯 (PBB)等有害物质。　　鉴于法令的响应，诸多汽车类及汽车类废品，包括其配件，材料及备品，替代品，生产厂家和原料供应商开始对其慢慢重视，将ELV法令纳入质量监控与管理的重中之重。对于元素的检测，以往检测手段一般都会使用化学分析仪器，那样需要大量的人力财力，并且对时间成本、人员要求却又非常紧张。 　　那么，面对大量的汽车原料及中间品，是否有快速有效的检测方法呢？日立仪器新推出ELV指令及欧盟Rohs指令等相关法规专用对应分析仪EA1000AIII（标准型）及EA1000VX（加强型），该两款分析仪隶属日立高新科学技术有限公司旗下X射线荧光分析仪，其拥有快速，无损，直接测量等优点，能够完全对应和满足汽车及相关材料中的有害元素检测，使其制造或加工的过程中帮助汽车制造，原料供应，零部件等制造加工的企业改进生产工艺，加强过程环节监控力度，从而实现绿色采购。解决方案请见：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/s546014.htm

汽车的历史新闻：　　近几年，汽车的质量问题屡见不鲜。时下的汽车安全问题，一直是汽车行业消费最关注的话题之一。那么，如今的汽车质量是否能跟上其日新月异的发展节奏呢？本次我们讨论的话题是，汽车电器中电器接插件方面的质量问题与其对应方法。在金属镀厚的过程中，主要有以下几种因素会影响其镀层质量： 镀前处理：生产实践证明造成镀层质量事故多数是由于金属制品的镀前处理不当或欠缺所致。镀前处理的每道工序都会直接问影响到镀层质量。电镀溶液：镀液的性质、各组成成分的含量以及附加盐、添加剂的含量等都会影响镀层质量。基体金属：镀层金属与基体金属的结合是否良好，与基体金属的化学性质有密切关系。如基体金属的电位负于镀层金属的电位，或对易于钝化的基体或中间层，若不采取适当的措施，难以获得结合牢固的镀层。电镀过程：电流密度、镀液温度、送电方式、移动和搅拌的速度等，也会直接影响镀层质量。析氢反应：在宁波电镀过程中大多数镀液的阴极反应都伴随着氢气的析出。当析出的氢气黏附在阴极表面上时会产生针孔或麻点；当一部分被还原的氢原子渗入基体金属或镀层中，会使基体金属及镀层的韧性下降而变脆，叫氢脆。氢脆对高强度钢及弹性零件产生的危害尤其严重。镀后处理：镀后对镀件的清洗、钝化、除氢、抛光、保管方法等都会继续影响镀层质量。电源问题：近年来除采用一般的直流电外，根据实际需要广泛采用换向电镀的方法，使用周期换向电流，还有脉冲电源提供的脉冲电流等都会对镀层质量产生影响。 　　那么，成品镀件的质量究竟该如何管控呢？　　镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。目前镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。　　X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。　　金属表面处理技术广泛应用于电子行业，而电镀处理更是其主要的表现形式，电镀效果也将直接影响电子设备的性能发挥，汽车电子行业也不例外，其中汽车电子连接器端子的电镀将会影响汽车电子设备的导电和信号传输等方面的性能发挥。 目前在汽车电子连接器端子中较为常见的是Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn、Sn/Ni/CuSn、Au/Ni/CuSn等镀层结构，日立FT110系列产品能够有效地对应Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn、Sn/Ni/CuSn、Au/Ni/CuSn结构的膜厚测量，使用日立FT110对Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn结构的测量来讨论电镀工艺在质量管理上的重要性。解决方案请见： http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/s544330.htm 

        金属表面处理技术广泛应用于电子行业，而电镀处理更是其主要的表现形式，电镀效果也将直接影响电子设备的性能发挥，汽车电子行业也不例外，其中汽车电子连接器端子的电镀将会影响汽车电子设备的导电和信号传输等方面的性能发挥，目前在汽车电子连接器端子中较为常见的是Sn-Ni-CuZn、Au-Ni-CuZn、Sn-Ni-CuSn、Au-Ni-CuSn等镀层结构，日立FT110系列产品能够有效地对应Sn-Ni-CuZn、Au-Ni-CuZn、Sn-Ni-CuSn、Au-Ni-CuSn结构的膜厚测量。       X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。

日立仪器（上海）有限公司参展BCEIA 2015         日立仪器（上海）有限公司参展第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）。第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）在北京国家会议中心开幕。        我们将在现场展示X射线荧光分析仪EA1000VX、EA6000VX及热分析仪器DSC7020、TMA7100。        北京分析测试学术报告会暨展览会(简称“BCEIA”),于1985年经国务院批准，由原中华人民共和国国家科学技术委员会成功举办了第一届，是我国首次举办的分析测试领域的大型国际学术会议和展览会。从2001年开始，由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办。历经29年的培育和发展，已成功地举办了十五届。现已成为国内分析测试领域专业化程度和知名度最高的盛会，在促进国际间的科学技术交流，推动我国分析测试科学和仪器制造技术的发展起到了重要作用。        日立仪器（上海）有限公司自2004年11月开始生产X射线荧光分析仪以来，于去年11月迎来了公司成立10周年。这10年来，我们主要生产和销售测量电镀等金属膜厚的X射线荧光膜厚仪和测量对应RoHS、ELV等的环境限制物质含有浓度的X射线荧光分析仪。        在X射线荧光分析仪方面，我们的设备受到从电子、汽车等微小零部件到大型的线路板等以电镀的膜厚测量为用途的众多客户的信赖。同时为了满足客户更方便的需求，不断推出对应微型化零部件的高性能机种。        在测量环境限制物质方面也同样，推出实现高吞吐量的新产品。也很期待在客户的品质管理上的实现操作时间等的省力化。        2013年1月1日加入到日立集团之后，在「成为高新技术解决方案领域的全球一流企业为目标」的日立高新集团的企业愿景下，以期不断提高设备品质及充实产品线。        今后我们会继续通过分析仪器、测量设备的生产、销售，以成为能够为社会作贡献的集团为目标，全体员工团结一致努力进取。

日立发售X射线荧光镀层厚度测量仪的新产品「FT150系列」－迅速、安全、简单地测量微区电子产品的镀层厚度－ 株式会社日立高新技术科学（社长：池田俊幸/以下简称日立高新技术科学）是株式会社日立高新技术（社长：久田真佐男/以下简称日立高新技术）的全资子公司，主要生产和销售分析测量设备。日立高新技术科学针对不断发展小型化以及微细化的电子零部件，率先发售可以迅速、安全、简单地测量直径100微米以下的镀层厚度和镀层结构的X射线荧光镀层厚度仪「FT150系列（FT150／FT150h／FT150L）」。                                                          FT150／FT150h                                                     FT150L 随着智能手机和平板端口等移动电子设备和汽车的电子控制的性能提升与集成高度化，其内部的半导体和被动元件、连接器等电子零部件不断地朝小型?微型化进化。为确保这些小型电子零部件的性能和品质并实现成本削减，也就产生了对直径在100微米以下的极其狭窄的领域中进行高精度且有效率的镀层厚度和组成的测量需求。 本次发售的X射线荧光镀层厚度仪「FT150系列」是采用聚光X射线的聚光导管，可对微小部的镀层厚度进行高速测量的高性能仪器。通过X射线检测仪器的改良，在线路板和连接器等使用的Au／Pd／Ni／Cu（金／钯／镍／铜）多镀层检测中，其测量速度与本公司以往机型（FT9500X，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT150h」里通过新开发的聚光导管也可以测量超小型芯片零部件的端子镀层厚度。而且跟以往机型相同，为操作员的安全和安心考虑，采用X射线泄露的可能性极小的密集型框架。新设计的样品室门采用大开口，同时保证了开启和关闭的便捷性。并且通过大型观察窗口，可以方便地取放和定位样品。另外，操作软件通过图标和导航画面在提高了操作性的同时，可通过数据自动保存功能减轻操作员的业务。通过这些改进，「FT150系列」实现了高精度?迅速的镀层厚度测量，为测量工作的效率化和成本削减做出了贡献。                日立高新技术科学自1971年在日本第一次开发了在非破坏、非接触、短时间内可以检测的X射线镀层厚度测量仪以来，得到了业界内部广泛的的好评。我们今后也将在「FT150系列」放在IC包装零部件、小型芯片零部件、微小型连接器、线路板等需求领域中也将持续努力。     【主要特点】1. 高速测量通过X射线检测机的改良，对于极具代表性的Au／Pd／Ni／Cu（金／钯／镍／铜）多镀层测量，相比以前机型，效率提高了2倍以上。 2. 对应超小型的芯片零部件的厚度测量（FT150h）FT150h通过最新开发的聚光导管，可以测量超小型芯片零部件（电容、电阻等）的电极部的镀层厚度测量。 3. 兼顾安全性和简便性采用防止X射线泄露的密集型框架和大开口且可以方便开启和关闭的样品门，兼顾安全性和简便性。「FT150L」可以对应最大600×600mm的大型线路板。 【主要规格】 FT150、FT150hFT150LX射线发生系聚光导管方式X射线检测器硅漂移检测器（Vortex）可移动量400(X):300(Y):100(Z)mm300(X):300(Y):100(Z)mm样品平台尺寸420(X):320(Y)mm620(X):620(Y)mm样品台载重量10 kg（非偏重心）外形尺寸930(W)×900(D)×710 (H)mm1030(W)×1200(D)×710 (H)mm 

发售X射线荧光分析「EA1000AⅢ」 ―环境限制物质筛选专用的标准机型－       株式会社日立高新技术科学（社长：池田俊幸/以下简称日立高新技术科学）是株式会社日立高新技术（社长：久田真佐男/以下简称日立高新技术）的全资子公司，生产和销售分析测量设备。日立高新技术科学面向日本国内和海外，发售针对WEEE／RoHS等指令被限制的有害物质管理用X射线荧光分析仪「EA1000AⅢ」。本仪器是一款低价位且高性能、便捷的标准机型。日立高新技术科学于通过推出此款新机，与今年9月份发售的高端型号X射线荧光分析仪的「EA1000VX」相结合，满足客户对有害物质管理的广泛需求。     X射线荧光分析仪「EA1000AⅢ」         本次发售的环境限制物质筛选检查用的X射线荧光分析仪「EA1000AⅢ」，与本公司原有机型（SEA1000AⅡ）保持相同价格，同时通过全新采用硅半导体检测器、电气控制和机械驱动的高速化，把平均检测时间缩短1/3，并配备以往作为选购品的「环境限制物质测定软件Ver.2」。此外，跟高阶机型（EA1000VX）相同，采用了轻便的样品门开关结构、自动判断材料功能以及通过前面板的指示灯表示检测进度的「进度条」、同时继承了可降低运行成本的无液氮的特点，实现高效检测。       根据2006年欧盟（EU）实施RoHS指令开始的环境限制，针对家电、汽车、家庭用品、玩具等广泛产品，已在全球范围内得以实施。此外，近年来也有将卤素等元素作为管理对象的趋势。在这种情况下，需要对从完成品的生产商到零件和原材料的世界规模的供应链进行环境限制物质的管理。       通过本次发售的「EA1000AⅢ」，更加充实了X射线荧光分析仪的产品阵容。今后，我们将继续为各国客户提供最适合的仪器，同时满足各类需求，为保护地球环境做出贡献。     【主要特点】 ・高速测定   与以往机型（SEA1000AⅡ）相比，缩短了1/3的测定时间（塑料，黄铜等的平均时间）。   通过仪器前面板的「进度条」，检测进度一目了然。   ・数据管理功能   由于「环境限制物质测定软件Ver.2」出色的管理功能，可以简单元素限制管理和结果一览表。 ・多元素对应    除RoHS指令的限制对象元素（Cd,Pb,Hg,Br,Cr）外还可以管理氯（Cl）等各种元素。 ・无需液氮    与以往仪器相同,无需使用冷却液氮   【主要规格】 测定原理 能量色散型X射线荧光分析法 测定元素 原子序数　Al（Z=13）～U（Z=92） X射线检测器 Si半导体检测器（无需液氮） 测定性能（塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr测定时间）* 约70秒   样品室尺寸 370（W）×320（D）×120（H）mm 自动进样器 （选购） 最多12个样品 外形尺寸 520（W）×600（D）×445（H）mm 重量 约59kg         *以本公司决定的测量条件为例          

        日立仪器（上海）有限公司将于2013年10月23日-10月26日（星期三～星期六）参加第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会 (BCEIA 2013)，欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！     参展公司： 日立仪器（上海）有限公司 展位安排： 北京展览馆（11007,11008,11031,11032） 展示产品： X射线荧光检测仪器 SEA1300VX 高灵敏度能量色散型X射线荧光元素分析仪 SEA6000VX   热重-差热综合热分析仪TG/DTA7300 展出地点： 北京展览馆北京西城区西直门外大街135号  

发售对应环境限制物质的X射线荧光分析仪「EA1000VX」 －通过高速测量和各种新功能、大幅提高了检测效率­－   株式会社日立高新技术科学（社长：池田俊幸/以下简称日立高新技术科学）是株式会社日立高新技术（社长：久田真佐男/以下简称日立高新技术）的全资子公司，生产和销售分析测量设备。日立高新技术科学面向日本国内和海外，9月10日开始发售X射线荧光分析仪「EA1000VX」。「EA1000VX」是针对欧盟（EU）的有害物质管理指令（ELV／WEEE／RoHS）等，对汽车和电气电子设备里的有害物质进行筛选检查的分析测量仪,其与以往型号的仪器相比检测更为迅速和简单。 EA1000VX   2006年7月，随着欧盟实施的RoHS指令（2002/95/EC）传播到日本、美国、中国、韩国等世界各国，很多国家也开始导入与之相同的指令。此外2011年7月实施了修正RoHS指令（2011/65/EU），新增医疗机器及监测和控制设备，从2014年7月开始依次执行。其中，与之相关的供应链里广泛的使用X射线荧光分析仪进行有害物质管理。虽然X射线荧光分析仪不需要进行样品解析等前处理即可进行简单而迅速的筛选检查，但是由于RoHS等环境规制物质检查的对象点数较多，客户需要的是能进一步缩短检查时间和更易于操作的仪器。   此次新发售的X射线荧光分析仪「EA1000VX」，与以往型号相比，检查时间大幅度的缩短至原有的1/10，也大大提高吞吐量（每小时的检查处理能力）。另外通过新追加的物料确定功能，仪器可以自动选择设定对应主成分的检测条件，防止测量者的失误也提高便利性。还可简单决定凹凸或微小的样品位置，增强样品门的开关便利性等方法来改良操作性，减轻工作人员的负担。此外，通过强化分析工具和数据的集中管理功能，提高管理人员的工作效率。通过以上功能大大帮助筛选检查的整体效率并降低成本。   RoHS指令公布已有10年历史，我们迎来了X射线荧光分析仪的更新时代。今后日立高新技术科学将对世界各国各地的电气电子机器、汽车以及汽车零部件厂家，积极推广销售。另外，2013年9月4日到6日，在日本幕张进行的「JASIS2013」（分析展/科学机器展）中，将介绍本仪器。   今后日立高新技术科学也将继续提供充分利用X射线为主的各种分析技术的分析仪器和检测仪器，为全球环境的保护做贡献。   【主要特点】 高速测定 相比以往型号「SEA1000AⅡ」，测定时间缩短为1/10（塑料，黄铜等的平均时间） 通过材料辨别功能的自动测定 仪器自动辨别材料自动进行测量 通过环境规制物质测定软件Ver.2，集中管理数据库和趋势管理 或者集中管理多台仪器的数据库，可以进行同类型仪器的过往数据库比较，也可以简单生成测量结果一览表。 除RoHS指令对象元素（ Cd,Pb,Hg,Br,Cr）以外，还可以对应 氯（Cl），锑（Sb），锡（Sn）等元素的管理。   【主要技术指标】 测量原理 能量色散型X射线荧光分析法 测量元素 原子序数Al（Z=13）～U（Z=92） X射线检测器  Vortex Si半导体检测器（不需液氮） 测量性能（塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr的测量时间） * 約30秒 样品室尺寸  370（W）×320（D）×120（H）mm 外形尺寸  520（W）×600（D）×445（H）mm 重量 约 60kg *以本公司决定的测量条件为例   以上

　　据加拿大维多利亚大学消息，该校据称为世界上最为强劲的显微镜已经完成安装、调试，即将启用，预约使用该设备的相关科学家和企业已经排起长龙。 　　该显微镜为扫描透射电子全息显微镜(STEHM)，重7吨、高4.5米，分辨率35皮米(一皮米为一兆分之一米)，相当于人类正常视力的2000万倍，是该类显微镜的世界首部。此前显微镜最高分辨率为49皮米，设在美国加州大学伯克利分校劳伦斯国家实验室。日立公司用了一年时间在加维多利亚大学一个研究中心地下实验室，安装了这部超高分辨率、超稳定的仪器。 　　该显微镜具有完整的分析能力，能让研究人员以一种前所未有的方式观测原子、确定元素类型和数量，并通过高分辨率摄像机收集数据。该校教授认为，有了这部设备，很多需要观测原子结构量级的加国内以及国际多学科科学和工程研究项目得以深入开展，相关科学研究也将开启新纪元。 　　整个显微镜相当庞大，包括22箱零部件。 研究人员正在检查卸下的电子枪部分 　　巨大的显微镜难以通过电梯搬运安装，工程人员拆开了地板，使用大型吊车将零件吊入地下室。 显微镜在实验室进行安装 显微镜在实验室进行安装 维多利亚大学John Braybrook教授与即将安装完成的STEHM 　　维多利亚大学显微镜基金主任Rodney Herring与安装完成的STEHM。此时，这部特制显微镜还未最终确定其型号。 其型号确定为HF-3300V 　　该显微镜使用亮度最高，最稳定，连续性最好的冷场发射电子源，内置由日立高新定制制作的CEOS像差的矫正镜片，安装在特制的地下实验室中，实验室坐落在基岩上，外壁有铝包层以阻挡电磁辐射，并安装了8英寸的绝缘板和镀锌钢板，尽量减少震动，整个实验室的电磁和磁场绝缘性良好。内壁安装了消声材料和冷却板，温度波动控制在到0.1华氏度/小时。当研究人员将样品放入仪器后，将离开房间，进行远程操作，以免产生气流，扰乱光束。 施工中的地下实验室 　　维多利亚大学显微镜基金主任Rodney Herring说：“STEHM将被各个地区，国家的科学家和工程师使用，用于大量的相关的研究项目，它使我们看到了看不见的世界。” 　　该校与巴拉德公司合作从事燃料电池的研究的科学家认为，该显微镜为燃料电池研究开辟了新的天地。温哥华当地一家生产高分辨率半导体辐射探测器(用于行李扫描和炸弹检测)和心脏核医学CT扫描的公司，也预约在该显微镜上开展研发。 　　加拿大联邦政府通过加创新基金支持该显微镜920万加元，BC省知识发展基金、大学及相关企业也给予了支持。

具体日程安排如下：   华东：上海市张江高科技园区碧波路690号2号楼102室 培训日期  培训课程 时间 联系方式  2013年3月29日 SEA初级 9:30~~16:30 联系人: 夏小姐 联系电话: 021-50273533 *605 2013年4月26日 SFT初级 9:30~~16:30 2013年5月30-31日 SEA中级 9:30~~16:30 2013年6月28日 SEA初级 9:30~~16:30 2013年9月27日 SEA初级 9:30~~16:30 2013年10月31日-11月1日 SEA中级 9:30~~16:30 2013年11月29日 SFT初级 9:30~~16:30 2013年12月27日 SEA初级 9:30~~16:30                   华南：广东省东莞市长安镇长青南路306号金业大厦4楼 培训日期  培训课程  时间 联系方式  2013年3月29日 SEA初级 9:30~~16:30 联系人: 吕小姐 联系电话: 0769-85845871 *805 2013年4月26日 SFT初级 9:30~~16:30 2013年5月30-31日 SEA中级 9:30~~16:30 2013年6月28日 SEA初级 9:30~~16:30 2013年9月27日 SEA初级 9:30~~16:30 2013年10月31日-11月1日 SEA中级 9:30~~16:30 2013年11月29日 SFT初级 9:30~~16:30 2013年12月27日 SEA初级 9:30~~16:30                   华北：北京市朝阳区建国门外大街甲24号东海中心10层1004室 培训日期  培训课程  时间 联系方式  2013年3月29日 SEA初级 9:30~~16:30 联系人: 侯先生 联系电话: 010-65155693 *106　 2013年4月26日 SFT初级 9:30~~16:30 2013年5月30-31日 SEA中级 9:30~~16:30 2013年6月28日 SEA初级 9:30~~16:30 2013年9月27日 SEA初级 9:30~~16:30 2013年10月31日-11月1日 SEA中级 9:30~~16:30 2013年11月29日 SFT初级 9:30~~16:30 2013年12月27日 SEA初级 9:30~~16:30

各 位 2013年1月1日 精工电子纳米科技有限公司更名为日立高新技术科学 携手日立高新科技力争为更大地满足客户的需求而努力     此次，精工电子纳米科技有限公司作为株式会社日立高新技术（以下称日立高新）的全资子公司，更名为株式会社日立高新技术科学。精工盈司电子科技（上海）有限公司作为日立高新技术科学（原精工电子纳米科技有限公司）的全资子公司，根据母公司的变更，我司也预定变更公司名称。     新的公司名称，会在得到中国政府相关部门的批准同意后向大家介绍。     日立高新集团是一家集销售、服务、产品开发等各方面为客户的广泛需求提供服务的综合性公司。作为日立高新集团的下属企业，我们在销售和售后服务方 面，会延续一贯的体制为广大客户提供服务。今后也会更加充实产品系列以及服务体制，为客户提供能够提升业务效率以及解决问题的产品和服务而努力。     敬请新老客户不吝赐教且大力支持。                                                                                以　　上

　　新型测量模具和对话式软件提高仪器的操作性 　精工电子纳米科技有限公司(简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称：SII，社长：镰田国雄，总公司：千叶县千叶市)的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于8月27日发售操作性以及可靠性大幅提升的动态热机械分析仪 「DMS7100」。　　 　　动态粘弹性测量法*1，，是一种热分析的科学方法。它主要用来分析塑料，橡胶弹性体，复合材料以及各种高分子材料力学特性。动态粘弹性测量不仅测量 杨氏模量*2及玻璃化转变*3，还可以获得关于聚合物的分子运动及分子结构的信息，在开发新材料上是不可缺少的测量方法。另外，工业材料的力学特性对产品 从基础开发到批量生产的加工过程中，都起着极为重要作用。也利用在材料的品质管理中。 本次发售的动态热机械分析仪「DMS7100」，沿袭了过去机型DMS 6100的性能及功能，提高了操作性和信赖性。新机型为了固定样品，改良了各种测量模具的形状，使之更方便样品的装卸。另外，通过对话式软件的「简单测量 导航」，将样品的拆装以及条件的设定明确地表示出来，这样，即使是第一次操作仪器的人也可以简单地进行操作测量。再加上通过「Lissajous」监控功 能能够观察到每个测量点的Lissajous图形，从而能够进行更高效率的测量。并且测量中的试样状态变化可以在CCD摄像头里观察，也能够通过样品观察 选项「DMS实时视图」来进行对应。作为日本国内顶级制造商，SIINT从1974年发售热分析仪器以来取得很多成就。这次的动态热机械分析仪「DMS7100」的加入，也为用户中广 受好评的SII的热分析仪器系列「EXSTAR70000」阵容的完善画上了完美的句号。今后我们将以促进功能性高分子材料为中心的新型工业材料的研究开 发及品质管理为目的来进行积极销售。 　　【DMS7100的主要特征】 　　1. 简易装卸样品的测量模具和对话型软件的便捷操作 通过对操作人员动作的研究，我们制作出能够对应各种形变模式的多种测量模具，并且改进了结构，以实现样品的便捷装卸。另外，从测量条件的设定到测量的开始 这一系列的操作通过插图的形式表示出来，这样即使是初学者也能够简单，准确的操作。　　 　　2. 通过Lissajous监控提高测量的可靠性 仪器配有的Lissajous监控功能可以测量过程中表示样品的应力和形变关系。还可以确认测量过程中样品不同测量点的实时变形状态。另外，通过 Lissajous图形的保存，在后期的数据解析时，可确认每个测量点上的样品变形状态，从而取得更加准确的数据。　　 　　3. 削减液化氮消费量的冷却装置 可以连接使用EXSTAR70000系列采用的全自动气体冷却装置。液化氮的消耗量可以削减约30%(本公司其他仪器比)，是环保型的冷却装置。4. 试样观察系统「实时视图DMS」(选配) 实时视图DMS，能够将测量中的试样状态变化通过连续的图像显示并保存。测量结束后，可以通过分析软件调取保存的图像，与温度和各种信号相对应，数据平滑 表示后进行分析。对于松弛现象等的技术评判，取得更加准确的数据提供支持。　　 　　【DMS7100主要规格】形变模式： 拉伸，双悬臂梁弯曲，单悬臂梁弯曲，3点弯曲，剪切， 薄膜剪切，压缩 测量模式 ： 动态测量・静态测量频率数 ： 正弦波振动时0.01～200Hz 　　合成波振动时 同时5频率 测量范围(贮藏弹性模量)： 105～1012Pa(拉伸)、105～1012Pa(双悬臂梁弯曲)、 106.5～1013.5Pa(3点弯曲)、103～109Pa(剪切)、 104～1010Pa(薄膜剪切)、105～109Pa(压缩)温度范围 ： -150～600℃ 升温速度 ： 0.01～20℃/min*1　动态粘弹性测量：对与试样施加随时间变化(振动)的应变或应力，测量由此发生的应力或应变，试样的力学性能的测量方法。*2　杨氏模量：固定一定粗细的棒的一侧，拉伸另一侧，棒的断面应力：σ和单位长度增长：ε之间有如下比例关系：σ=Eε。比例系数E即是杨氏模量。*3　玻璃化转变：对固体非晶材料进行加热时，在低温呈现如结晶态的高刚性低粘度状态，在某一温度范围内，刚度和粘度发生急剧变化，流动性增加，这一变化即为玻璃化转变。 以上

精工盈司将于2012年8月28日-8月30日（星期二～星期四）参加 第十八届华南国际电子生产设备暨微电子工业展 (NEPCON South China 2012)，欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！ 参展公司： 精工盈司电子科技（上海）有限公司 展位安排： 深圳会展中心1H16 展示产品： X射线荧光元素分析仪(SEA1000AⅡ) X射线荧光膜厚测量仪(SFT-110) 高敏感度差示扫描热量计（DSC7020)     展出地点： 深圳会展中心（ 深圳市福田区福华三路）

精工盈司将于2012年4月25日-4月27日（星期三～星期五）参加 第二十二届中国国际电子生产暨微电子工业展（NEPCON China 2012），欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！   参展公司：精工盈司电子科技（上海）有限公司 展位安排：上海世博展览馆 1F78 展示产品：X射线荧光元素分析仪     SEA6000VX           高敏感度差示扫描热量计   DSC7020   展出地点：上海世博展览馆 上海市 浦东新区 国展路1099号（南门） 上海市 浦东新区 博成路850号（北门）

第79届中国电子展（79th China Electronics Fair）诚邀您的莅临指导！   精工盈司将于2012年4月10日-4月12日（星期二～星期四）参加 第79届中国电子展（79th China Electronics Fair），欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！ 参展公司：精工盈司电子科技（上海）有限公司 展位安排：深圳会展中心 1D329-1D330 展示产品：X射线荧光元素分析仪  SEA1200VX           高敏感度差示扫描热量计   DSC7020 展出地点： 深圳会展中心（ 深圳市福田区福华三路）

第二十一届中国国际电子电路展览会（CPCA SHOW 2012）诚邀您的莅临指导！   精工盈司将于2012年3月13日-3月15日（星期二～星期四）参加 第二十一届中国国际电子电路展览会（CPCA SHOW 2012），欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！ 参展公司：精工盈司电子科技（上海）有限公司 展位安排：世博展览馆一号展厅E15 展示产品：X射线荧光镀层厚度测量仪  SFT-110           高敏感度差示扫描热量计   DSC7020 展出地点： 上海浦东世博展览馆 上海市浦东新区世博馆路111号 中国国际电子电路展览会（CPCA SHOW 2012）网址： http://www.ying-zhan.com/Audience.asp

时间 地点 展会名称 展位号 3月13-15日 上海 第21届中国国际电子电路展览会 E15  4月10-12日 深圳 2012中国电子展 1D329-330 4月25-27日 上海 第二十二届中国国际电子生产设备暨微电子工业展（NEPCON2012）   8月28-30日 深圳 深圳国际电子生产设备暨微电子工业展览会   11月28-30日 广州 中国国际表面处理展（SF CHINA）  

新年快乐！ 昨年は、日本の東日本大震災、そして泰国の大洪水、土耳其の地震など、 世界中で大きな災害に見舞われました。 被災された皆様へ謹んでお見舞い申し上げますと共に、一日も早い復興を 心よりお祈り申し上げます。 この災害はとても辛く悲しい出来事でしたが、一方で被災された方々へ 中国をはじめ世界中の人々の心温まる励ましや支援は、まさに世界中の 人々の心が一つになった瞬間であると思います。 また、この災害により、世界中の人々があらためて防災対策の大切さを 考える機会になりました。 特に、東日本大震災では、エネルギーの大切さ、そして安全なエネルギー とは何かを考え、新たな技術開発へ向けて加速し始めた年でもあります。 新たな年を迎え、弊社も今までの経験を活かし、中国をはじめ世界中の 皆様のお役に立てるよう、総力をあげて取り組んでまいります。 本年も引き続きご愛顧賜りますよう、宜しくお願い申し上げます。 精工盈司電子科技（上海）有限公司 董事　总経理金子敏行   新年快乐！ 去年，世界遭受多起自然灾害，譬如日本的东日本大地震，之后的泰国洪水,以及土耳其的地震等等。 在此,谨向受灾人民表示诚挚地问候，并衷心祝愿早日复兴！ 虽然遭受这些灾害是惨痛的经历，但是以中国为首的世界各国人民向灾区所表达的鼓励和支援， 正是世界各族人民团结一致、心心相连的佐证。同时，也正是因为这些灾害的出现，才使我们 有了重新审视防灾对策的重要性的机会，特别是在东日本大地震之后，人们开始思考能源的重 要性以及安全的能源究竟是什么?并加快了新技术开发的步伐。 值此新年之际, 仅代表公司向各位致以诚挚地祝福。我们会一如既往地利用我们至今所积累的 经验，以向包括中国在内的世界各国人民作贡献为己任，尽我们的全力提供帮助。 今后也敬 请不吝赐爱，继续关注和支持我们，非常感谢! 精工盈司电子科技（上海）有限公司 董事   总经理 金子敏行  

高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度      精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。            高性能X射线荧光镀层厚度测量仪　「SFT9550X」     要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・蒸镀等金属薄膜的膜厚・组成进行测量管理，就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展，连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时，电镀・蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。   「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统（毛细管）和X射线源的组合，可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度，而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。     SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪，而后在日本国内及世界各地进行广泛销售，得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售，对电子仪器的性能・品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・多层膜测量通过采用新型的毛细管（X射线聚光系统）和X射线源，把与以往机型（SFT9500）同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此，不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时，也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描，可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据，更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合，可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线，通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析（Al～U）。 【SFT9500X系列的主要产品规格】    SFT9500X SFT9550X 样品台尺寸（宽）×（长）　 175×240 mm 330×420 mm 样品台移动量（X）×（Y）×（Z）　 150×220×150 mm 300×400×50 mm 被测样品尺寸（最大）（宽）×（长）×（厚度）　 500×400×145 mm 820×630×45 mm X 射  线 源 空冷式小型X射线管（最大50kV，1mA） 检   测  器 Vortex半导体检测器（无需液氮） 照 射 直 径 最小30μmφ 样 口 观 察 CCD摄像头（附变焦功能） 样 品 对 焦 激光点 滤 波 器 Au极薄膜测量用滤波器 操  作  部 电脑、19英寸液晶显示器 测 量 软 件 薄膜FP法、薄膜検量線法 选       配 能谱匹配软件、红色显示灯、打印机 测 量 功 能 自动测量、中心搜索 数 据 处 理 Microsoft® Excel、Microsoft® Word（配备统计处理；测量数据、平均值、最大・最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作（包含样品图像）） 安 全 功 能 样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】　1,650万日元～（不含税） 【出货开始时间】　2012年2月上旬 【销售目标台数】　50台（2012年度） 　　　Microsoft是美国　Microsoft　Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上 本产品的咨询方式中国：精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL：021-50273533FAX：021-50273733MAIL：sales@siint.com.cn日本：【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部  井尾、森TEL：043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL：info@siint.co.jp 

为确保电池容量、防止发热起火、成品率改善等作贡献     精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。新产品「SEA-Hybrid」可快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池的电极中可能掺杂的20μm大小的微小金属异物并进行元素分析。                            X射线异物分析仪　「SEA-Hybrid」   　构成锂离子电池和燃料电池的电极材料和隔膜中如果掺有金属异物的话，不仅会降低电池容量及缩短使用寿命，还会导致发热起火。SIINT致力于电池中的金属异物检测仪的开发，在今年9月份日本的分析展上展出了样机，现已经投产并开始销售。   　「SEA-Hybrid」把电极板和隔膜以及装在容器里的活性物质放到仪器中，选择检查程序后，只需点击开始测量，从X射线透视图像的拍摄到金属异物的检测及其元素分析都可自动运行。并且，分析结果中包括样品中的金属异物个数和各个异物的组成及其尺寸、显微镜的观察图像都可输出，由此可简单地知道金属异物的掺入途径。因为无需前处理且完全自动，所以可以方便地进行抽样检查和故障分析。SIINT将销售此仪器到电池厂家、原材料厂家等，为电池的品质提高作贡献。    【SEA-Hybrid的主要特征】   1.　 可在几分钟内对250×200mm大小的样品检测出20μm大小的金属异物 例如要检测250×200mm（约B5尺寸）大小的电池电极板中20μm大小的金属异物，以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。SIINT通过新型X射线透视方法的开发，成功缩短了时间。检测速度成功达到了以往的100倍以上，可在3～10分钟内完成。   2.电极板的微小金属异物也可进行元素分析 对样品中检测出的金属异物可自动使用X射线荧光法进行元素分析。以往，对于电极板中可能存在的20μm左右的微小金属异物，只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时，异物产生的X射线荧光被基材所吸收，信号强度非常微弱。「SEA-Hybrid」采用独自研发的高能量X射线光学系统，可对电极・有机薄膜内部所含的20μm大小的微小金属异物进行元素分析。   3. 一体化的操作，提高作业效率 与以往的技术相比，金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高，并且把显微镜等都组合在一台仪器内，各个系统联动可全自动输出测量结果。因此，操作人员只需放置好样品，即可获得测量结果，大大提升了作业效率。   【SEA-Hybrid的主要规格】 被测样品尺寸 宽250×深200mm 异物检测时间 3～10分钟左右（250×200mm全面摄像、20μm大小异物的检测时间） 异物元素分析时间 1～4分钟左右　每检测出1个（根据异物尺寸及元素的不同，有时会发生变化） 装置 X射线发生系统冷却用水 仪器自身尺寸 1340（宽）×1000（深）×1550（高）mm   【价格】　5,800万日元～（不含税）   【销售目标台数】 20台（2012年度）  以上 本产品的咨询方式 中国： 精工盈司电子科技(上海)有限公司 TEL：021-50273533 FAX：021-50273733 MAIL：sales@siint.com.cn 日本： 【媒体宣传】 精工电子有限公司 综合企划本部 秘书广告部 井尾、森 TEL：043-211-1185     【客户】 精工电子纳米科技有限公司 分析营业部 营业二科 浅井、村松 TEL: 03-6280-0077 http://www.siint.com/

精工盈司将于2011年11月23日-11月25日（星期三～星期五）参加第24届中国国际表面处理展(SFCHINA），欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！ 展位号 SF 1G 70/72     精工盈司电子科技（上海）有限公司 展出地点： 上海新国际博览中心(SNIEC) 中国上海市浦东新区龙阳路2345号

精工盈司将于2011年11月3日-11月4日（星期四，星期五）在上海世贸商城（SHANGHAI MART）参加第2届新能源汽车测试新技术大会暨展览会(CarTestingChina2011)。届时将展出高灵敏度能量色型仪X射线元素分析仪，欢迎各界人士莅临指导，参观我们的展位！ 展位号 37     精工盈司电子科技（上海）有限公司

由中国化学会主办,河北师范大学协办,南京师范大学承办的“中国化学会第三届全国热分析动力学与热动力学学术会议暨江苏省第三届热分析技术研讨会”将于2011年10月20—22日在南京市召开。 精工盈司电子科技(上海)有限公司将在会上发表以“科学思维方法在热分析中的应用”为主题的演讲。 演讲内容分为三部分： 公司介绍 精工热分析仪器的精髓：满足需要。 精工热分析技术支持，可以提供热分析方法选用、曲线解析和科学思维方法在热分析中的应用。   欢迎各界人士莅临指导！

世界首台*1　使微小金属异物的快速检测及元素分析自动化 　　精工电子纳米科技有限公司(简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市)的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。SIINT成功开发了一款检测仪器，既可自动进行元素分析，又可在数分钟内快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池的电极中可能掺杂的20μm左右的微小金属异物。此试验机将在9月7日-9日的日本国内最大的分析仪器展「分析展/科学仪器展2011」(幕张Messe)展出。 X射线异物检查仪(样机) 　　锂离子可充电电池和燃料电池中掺杂金属异物是导致电池的成品率及寿命缩短的重要原因。特别是锂离子可充电电池会发热，有可能引发起火。近年来，随着在汽车・电油混合汽车以及住宅方面的应用，电池也逐渐大型化，因此防止金属异物的掺入变得更重要了。所以，以电池厂商为中心，为了防止金属异物的掺入，进行了复杂的故障分析。 　　金属异物的掺入途径是通过活性物质*2・分离器*3等材料以及涂漆等生产工程中掺入等多方面原因。以往所进行的故障分析是把不良电池拆除，通过X射线穿透检查仪和显微镜检测出金属异物存在的地方，再使用扫描电子显微镜和X射线荧光分析仪等特定对象元素，然后推测掺入的途径。但是，这些方法由于仪器性能的限制，很难检测出50μm以下的金属异物，并且检测所需时间非常长也是问题之一。并且，由于使用别的仪器对检测出的异物进行元素分析，有可能找不到需要检测的地方。 　　最近SIINT把通过X射线穿透进行金属异物的检测和使用X射线荧光进行元素分析的两项技术相融合，开发了世界首台可检测并且分析20μm左右的微小金属异物的X射线异物检查仪。 　　把电极板和分离器、装在容器里的活性物质放到仪器里，选择检查顺序后，只需点击开始测量，从X射线穿透图像的拍照到金属异物的检测及其元素分析都可自动运行。并且，分析结果中包括样品中的金属异物个数和各个异物的组成及其尺寸、显微镜的观察图像都可输出。由于无需前处理并且完全自动，所以无论是谁都可以简单地进行故障分析・抽样检查。 　　【X射线异物检测仪的主要特征】 　　1.可在数分钟内检测出A4大小样品中20μm左右的金属异物 　　例如要检测A4大小的电池电极中20μm左右的金属异物，以往的X射线穿透检查仪需要数小时以上的摄像时间※1。SIINT通过采用最新的X射线管球和检测器以及新图像处理技术，大大缩短了摄像时间，检测速度成功达到了以往的100倍以上。A4大小的电池电极可在3～6分钟内完成摄像、识别20μm左右的金属异物并自动检测。 　　2.元素识别速度大幅提升 　　对检测出的金属异物，自动使用X射线荧光法进行元素分析。本仪器配备了我司独自研发的高亮度X射线光学系统，20μm左右的金属异物的元素识别速度是以往仪器的10倍。 　　3.一体化的操作，提高作业效率 　　X射线穿透检查仪和元素分析仪以及显微镜都包含在一台仪器内，各个系统联合起来可全自动输出测量结果。因此，操作人员只需放置好样品，即可获得测量结果，大大提升了作业效率。 　　*1　敝司调查 　　*2　活性物质：通过与电解质的化学反应，吸收电子或者放出电子的物质。吸收电子的活性物质称为正极活物质，放出电子的活性物质称为负极活性物质。 　　*3　分离器：用带有无数微小的孔的薄膜(聚乙烯：PE或者聚丙烯：PP)，把正极和负极绝缘起来 　　本产品的咨询方式 　　中国： 　　精工盈司电子科技(上海)有限公司 　　TEL：021-50273533 　　FAX：021-50273733 　　MAIL：sales@siint.com.cn 　　日本： 　　【媒体宣传】 　　精工电子有限公司 　　综合企划本部 秘书广告部 　　【客户】 　　精工电子纳米科技有限公司 　　分析营业部 营业二科 　　TEL: 03-6280-0077(直线) 　　MAIL：info@siint.co.jp

提高了加工速度、加工精度、观察精度 精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。提高了加工速度、加工精度、观察精度的聚焦离子束的新产品「SMI4050」于8月30日开始销售。   聚焦离子束　SMI4050 聚焦离子束（FIB仪器）是使用数纳米细的离子束对样品表面进行扫描，可实现纳米级别的(1)蚀刻加工、 (2)堆积加工、 (3)显微镜观察的仪器。通过这些功能的组合，可进行半导体设备的布线变更、缺陷评价、断面加工・观察以及透射电子显微镜(TEM)用的样品薄片的切除加工、金属材料的结晶粒观察等，对以半导体为开端的电子部件和高功能材料的开发・改良具有重大贡献。 SIINT从1986年在日本首次销售通用FIB仪器以来，作为拥有世界领先水平技术的FIB仪器厂商，一直致力于二维电子图像分辨率的提高等以高性能化和自动化为首的高功能化。近年来，伴随关各种材料和半导体设备等对生产量的要求变高，也要求FIB仪器的离子束光学系统的高分辨率化和样品台的高精度化。另外，随着市场的扩大，对电子部件和复合材料等的断面加工时间的缩短化要求也增加了。 SMI4050配合有对应大电流的新型离子束光学系统和具有优良再现性的高精度样品台，可用这一台仪器对各种样品进行大面积加工和分辨率和显微镜观察。并且，对以往的操作性进行改良，断面加工和TEM样品制作更加自动化，可获得不依赖于操作员的熟练度的更准确的数据。 此次，通过发布SMI4050，可对应各领域的广泛研究开发的要求，可使FIB仪器应用得更广。 【SMI4050的主要特征】1. 通过大电流离子束，大幅缩短加工时间以前，数百微米的大尺寸断面制作加工需要很长时间，通过采用新型离子束光学系统，离子束电流约为以往机型的2倍，大幅缩短了加工作业时间。 2. 通过极低加速电压，制作高品质的样品TEM样品制作需要低加速电压下的精加工，SMI4050能达到低至0.5kV(选配设定时)的加速电压，可制作更高品质的TEM样品。同时通过提高低加速电压时的二维电子图像分辨率，实现了正确并且确实的加工。 3.提高二维电子图像分辨率世界领先水平的SMI系列的二维电子图像分辨率，以往的加速电压在30kV时的二维电子图像分辨率还是不变，即使设定0.5kV（选配）的极低加速电压时也可得到清晰的图像。 4.采用高精度样品台通过采用高精度机械5轴自动倾斜修正样品台， 对于样品观察时的位置对准和连续TEM样品自动加工也可实现高精度的坐标位置指定。 5.优越的操作性以「操作简单且高精度」为关键字，实现了TEM样品的自动制作等高精度且无需熟练掌握的自动加工。 【SMI4050的主要规格】FIB二次电子分辨率      ：4nmFIB加速电压            ：1～30kV (选配设定时：0.5～30kV)探针电流范围            ：0.15pA～90nA最大探针电流密度        ：50 A/cm2样品台                  ：高精度机械5轴自动倾斜修正样品台样品尺寸                ：50mm×50mm 【价格】            7,000万日元～（不含税） 【销售目标台数】    10台（年度）   本产品的咨询方式中国：精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL：021-50273533FAX：021-50273733MAIL：sales@siint.com.cn日本：【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部【客户】精工电子纳米科技有限公司BT营业部 BT 营业一科TEL: 03-6280-0074http://www.siint.com/