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精微高博比表面及孔径测试仪荣获中国计量院测试证书

2009-07-24 14:34

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资料摘要:

2009年7月1日,北京精微高博JW-BK型静态容量法比表面积及孔径分析仪,荣获了中国计量科学研究院的测试证书【见附件】。中国计量科学研究院测试依据是国家标准GB/T21650.2 第二部分 气体吸附法分析介孔和大孔以及GB/T19587 气体吸附BET法测定固体物质比表面积,用国产JW-BK型仪器测定美国特制的孔径标准样品,测试结果充分证明了国产JW-BK型仪器测量精确度高,重复性好,标志着其性能已达到国际先进水平,完全可以代替进口。 在我国,本次检测是对国产孔径分布测试仪器的首例检测,无疑是对JW-BK型比表面积及孔径分析测试仪质量的有力鉴证,

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《吸附科学》详细介绍了吸附的基本概念、吸附作用力、吸附等温线及其测量方法、气相吸附、液相吸附、固体表面和吸附状态的研究方法、常见吸附剂等内容。着重阐明了吸附的基本概念、基本理论和基础知识,反映了吸附科学的最新研究成果及其发展。

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