光学热膨胀仪 DIL 806

仪器简介：

DIL806光学热膨胀仪是一种创新的[1]和通用的测量热膨胀和收缩的仪器。测量样品的长度时完全没有接触，因此非常适合于薄的，形状不规则的和软的样品。

[1]美国专利＃7524105


技术参数：

技术：

DIL806光学热膨胀仪采用了创新的测量原理，使非传统的热膨胀实验成为可能，并改善了许多传统的测试

测量原理
DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中，通过测量CCD探测器上样品的
阴影来测量一个方向上样品的绝对尺寸的大小。 高强度的GaN LED发出平
面光，通过一个扩散单元和准直透镜，产生高度均匀的、短波平面光。该
光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理，
并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度，进
而测定样品的尺寸。

绝对测量的优势
DIL806测量本质上是一个绝对的测量，不受随温度程序变化的系统热膨胀的
影响。 只有样品经历温度的变化，光源和检测器与这些变化相隔离。因此，
测量是绝对的，不需要进行顶杆式膨胀仪使用中常见的特定测试的校准。

炉体技术
DIL806采用了创新的板形炉，提供了卓越的温度均匀性和响应时间。样品放
置于宽平面加热元件的中心，加热元件的尺寸远远大于样品，防止了在横向
方向上的温度梯度。炉盖内有一个类似的加热元件，位于样品的正上方，可
以最大限度地减少垂直温度梯度。
炉体能够提供100℃/min的快速加热以及10分钟内从1400℃至50℃的冷却时
间。快速的加热和冷却速度，保证了样品高通量以及温度快速变化下过程的
表征。
炉体的动态反应也使得DIL806特别适合仪器的控制软件所支持的速率控制烧
结实验。自定义软件包允许用户定义一个目标的烧结（收缩）率。可根据样
品特性，通过增加或减小加热速率实时调整温度，以达到目标速率。
 

非接触式测量的优越性
非接触式的测量系统提供了以下几个优点。因为没有直接施加负载到样品上，因此即便是最柔软的材料也可以获得最高的测量精度。
包括薄膜，或质地柔软测量或在实验过程中发生软化的材料。
由于与测量系统无物理接触，进一步提高了温度均匀性。顶杆可以作为散热件，在与样品接触点处产生热点或冷点。而DIL806是没有
这些接触点的，确保了整个样品在整个实验过程中温度的均匀，无需考虑实验中的温度分布。
广泛的测量面积大大简化了样品位置。仪器的测量面积，宽30毫米，在这个范围内的任何位置放置样品，仪器均能表现出优异的工作
性能。这样就简化了样品装载，去除样品位置的严格限制。

样品类型
DIL806提供了最大的灵活性的样品类型和制样。没有推杆接触，不再需要光滑或平行的样品表面。不规则形状的样品可以很轻松的测
量。薄膜样品可以很容易的在其长度或宽度方向进行测量。对于不透明、半透明或透明的材料， DIL806均能获得优异的测量结果。也
可以测量单个样品在几个方向上尺寸变化， 可以表征复合材料或者其他有取向性材料的各向异性的热膨胀。
因为DIL806可以使用多种样品类型和形状，因此它是对其他的测量的完美补充。可使用DIL806对其他测量方法（比如动态力学分析仪
（DMA）、激光法测导热、表面硬度密度或其他）的同一样品进行测试