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反射光谱法计算薄膜厚度
2016-11-29 18:37
浏览：147次
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薄膜的反射扫描会生成干涉条纹。各波长范围内的条
纹数量取决于反射角、薄膜厚度和薄膜折射率。如折
射率已知，则在一个折射角采集的数据足以计算薄膜
厚度；如折射率未知，在两个折射角所采集的数据可
用于计算折射率和薄膜厚度。所有计算均在电子数据
表格中自动完成，以便技术人员操作。采用分光光度
计得到的结果与折光仪测得的结果良好吻合。
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Ramina 过程分析仪是一款紧凑型的便携式拉曼光谱仪。其一体化的系统专为注重时效的客户而设计，具备可快速部署，简单易用及扩展性强的特点。
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