主要特点:
机构稳定可靠,成像清晰,操作简便,光学系统优良。广泛应用于各类半导体硅晶片检测,材料研究,地质矿物分析,以及精密工程等学科领域。
技术参数:
光学系统:平场消色差光学系统
平场消色差金相物镜:5X、10X、50X、100X(选配)
高眼点平场目镜: PL10X/18mm
观察筒: 旋转铰链式双目(三目),30°斜筒, 360°旋转
照明系统::落射式柯拉照明,90V-240V自适应式宽电压,卤素灯6V30W,灯丝中心可调,亮度连续可调
调焦机构::粗微动同轴,带有粗调松紧调节装置和随机限位装置;粗动行程22mm,微动精度:0.002mm
转换器:内定位四孔转换器
载物台::140X132mm,双层同轴机械移动,附180X145mm平板平台
滤色片:蓝色滤色片
摄像接口:1/2X或1X CTV接口
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