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凯来谱 · 微区X射线荧光分析服务介绍
凯来谱 · 微区X射线荧光分析测试服务介绍
微区X射线荧光（μXRF）分析主要通过激发源发射微X射线束斑到样品, 通过荧光光谱分析元素分布一种无损分析技术。该技术可同时检测样品的多种元素，从主量元素到微量元素，适用于地质矿产，生物医学，环境科学，材料科学，人文考古和公共安全等研究领域。
凯来谱应用实验室现推出μXRF测试分析服务，详见下方彩页，欢迎各位老师预约测试。
凯来谱位于上海市浦东新区临港新片区海立方科技园11号楼4-5层，测试能力覆盖地质定年，激光面扫描成像，μXRF面扫描成像，LIBS全元素成像，海水痕量元素分析，元素形态分析，半导体高纯试剂和靶材分析以及单颗粒单细胞分析等等。
仪器设备主要包含多台四极杆质谱，三重四级杆质谱，飞行时间质谱，μXRF分析仪，飞秒激光剥蚀系统，193nm激光剥蚀系统，LIBS激光诱导击穿光谱仪，prepFAST S半导体超净进样系统，seaFAST海水预富集系统，microFAST SingleCell单颗粒/单细胞进样系统，prep FAST IC元素形态分析系统等等。可承接地质、环境、海洋、生物、文博、新材料、半导体等各类型测试项目。
送样电话：021-58955763，15900900645 朱经理
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