可变电阻式存储器测试系统

来自德国aixACCT公司的世界独特的阻变式存储器 （ReRAM/RRAM，Resistive Random Access Memory）测试系统。
应用领域主要有：
Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 铁电/多铁隧道结
Electro-Chemical Metallization Memory (ECM) 电化反应存储器
Magnetoresistive Tunnel-Junctions (MTJ) 磁阻隧道结
Electronic Effect Memory (EEM) 电子效应存储器
Thermo-Chemical Memory (TCM) 热化存储器
Valence Change Memory (VCM) 价变存储器
Phase Change Memory (PCM) 相变存储器
Nano Electro-Mechanical Memory (NEMM) 纳米机电存储器
Molecular Electronic Switch 分子电子开关

电阻开关测试系统Resistive Switching Test Systems RS系列仪器是aixACCT公司独特产品，用于电阻特性随机存储器（RRAM）和电阻开关（RS）的研究测试。
RS系列仪器能够提供相当广的范围的测试解决方案，范围涵盖从纳米尺度的表征到超高速器件的测试，从独立的研发级的桌上型测试系统到半导体生产线。
 
研究及工业级系统Research and Industry Tools
模块化的设计理念，使得aixACCT产品可以在任何时候从基本的材料表征工具升级其他的选件配置。这提供了最大的灵活性，可以使您的测试系统达到针对您的材料或器件发展的任何阶段的特定要求。
 
RRAM测试系统可以很容易的和其他设备或通用软件联用，如：
从1英寸到8英寸晶圆的热台；
用于样品平行测试的Switchbox系统
用于晶圆扫描信息的自动晶圆探针台
自动性能测试序列的远程控制
脉冲发生器、数字采样示波器

aixACCT公司开发出了一种通用的RS模块用于电阻开关存储器的测试。系统基于TF Analyzer 2000系统，联用RS模块和特定的电流监视放大器，可以满足RRAM的表征。 系统配置了高精度电压和电流源以及高级电压、电流监视放大器。aixACCT的超快电流和电压适应性保证了每次电阻开关系统测试的高精度和可靠性测量。
 
该测试系统完全兼容aixACCT的测试软件和选配软件工具，可以提供可靠性测试和数据分析及交换。
 
应用：
单极及双极偏压的I-V表征；
电压驱动的电流响应测试及电流驱动的电压响应测试；
可靠性和疲劳测试；
可编程编成程序；
可靠性和耐久性测试
 
优点：
一站式单极偏压和双极偏压电阻开关材料的综合评价（TCM,ECM和VCM系统）；
超快响应系统（设置时间<100ns）；
调停过程电流电压响应的真实电流电压值的记录系统；
可实现远程访问和脚本控制；
可选的数据库连接（ODBC）方便确定材料/器件特征；
升级服务；客户支持

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