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天瑞仪器参加“第三届环境与安全检测仪器分会学术交流会议”

天瑞仪器(Skyray)

2011/09/07 15:31

阅读:526

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9月1日,“第三届环境与安全检测仪器分会学术交流会议”在北京中国国际展览中心(CIEC)举办,天瑞仪器研发一部副部长吴升海博士参加了会议,并作学术报告。

“第三届环境与安全检测仪器分会学术交流会议”是由中国仪器仪表学会环境与安全检测仪器分会主办,旨在进一步促进环境与安全检测仪器领域的学术交流与合作,更好地推动环境与安全检测仪器的技术创新与产业发展。

与会人员有:中科院安徽光机所谢品华研究员、国家辐射环境监测中心赵顺平副主任、清华大学公共安全研究中心袁宏永教授、天津大学范世福教授、北京市化工研究院研究员尹洧以及国内外各大仪器厂商代表等100余人。

天瑞仪器吴升海博士作题为《XRF在环境重金属检测的最新研究方法》的报告,详细介绍了天瑞针对土壤、水质、大气三种不同介质中的重金属的检测技术。吴升海博士指出,重金属检测XRF法具有原位、无损、迅速、准备等优点,既可应用于实验室,也可以应用于室外应急重金属检测。天瑞采用高度集成的专利探测器和X射线荧光数字多道分析技术,结合大气颗粒物富集技术,实现实时在线自动监测空气或者烟气中的多种重金属含量,探测灵敏度(定量下限)可以达到1ng/m3。

会议现场

吴升海博士作会议报告

了解天瑞仪器:www.skyray-instrument.com

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