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德祥科技邀请您参加2007年北京光谱年会

德祥

2007/11/28 10:44

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为促进光谱技术交流，北京理化分析测试技术学会光谱学会于2007年12月13日，在北科大厦举办光谱年会。拟就原子光谱和分子光谱分析技术动态、光谱分析仪器方面的新进展等问题进行学术交流，并邀请光谱分析方面的专家作专题报告。

德祥科技将携手XRF最新技术，参加本次盛会。届时，我们将提供现场免费测样、演示。希望各位专家莅临指导，与我们共同分享光谱界的新技术成果。

光谱年会的详细信息如下：
一、年会地点：北科大厦  三层报告厅(北京海淀区西三环北路27号)
二、年会时间：2007年12月13日星期四  全天（上午8：30开始）
三、本次光谱年的专题报告主要内容：
原子光谱分析仪器的新进展    (郑国经)
ICP光谱仪器的进展           (郑国经辛仁轩)
新型CS-AAS仪器评价           (高介平)
金属原位统计分布光谱分析    (李美玲)
原子荧光光谱分析仪器进展—国内外的仪器发展动态         (王明海)
GDS仪器及分析技术进展         (余  兴)
X射线荧光光谱仪器在RoSH分析上的应用    (符  斌)
分子光谱分析仪器的新进展      (孙素琴)
拉曼光谱技术新近展            (周群许振华)
近红外光谱技术及应用          (袁洪福)
紫外可见分光光度计的进展及应用动向     (刘  锋)
分子荧光光谱分析技术的进展      (李  娜)


德祥科技有限公司
2007年11月20日