您好,欢迎访问仪器信息网
注册
HORIBA(中国)

关注

已关注

品牌合作伙伴
白金22年 白金

已认证

粉丝量 0

400-860-3611

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: HORIBA > 资料中心 > SZ-100 系列纳米颗粒分析仪 - 中文样本

SZ-100 系列纳米颗粒分析仪 - 中文样本

2016-08-12 08:49

浏览:74

分享:

资料摘要:

SZ-100系列采用动态光散射原理(DLS)测量粒径大小及分布,实现了超宽浓度范围的样品测量,不论浓度是ppm级还是高达百分之几十,均可准确测量。可使用市售样品池。测量微量样品也极为方便。同时,使用HORIBA独创的微量样品池,样品量仅需100μL。通过Zeta电位值可以预测及控制分散体系的稳定性。zeta电位越高意味着分散体系越稳定,对于配方研究工作意义重大。

下载本篇资料:

资料文件名:
资料大小
下载
SZ-100-201606-V1-LR.pdf
1256KB

相关资料

作为一款科研级的高性能显微共焦拉曼系统,XploRA PLUS 具有高分辨率、高灵敏度等诸多优点,是研究和测试分析的理想选择。它的使用非常便捷,可以根据不同的实验需求自动切换光栅、激光等。此外,它还拥有许多独特的功能,如配备了HORIBA Scientific 独有的SWIFT 超快速共焦成像功能,最快可达1ms/ 光谱,极大地提高了分析速度,其真共焦设计还能让您拥有高品质成像质量和高空间分辨率。

XelPleX兼具多通道功能(同时测量多个相互作用)和高灵敏度的表面等离子体共振技术,可实现高分辨动力学测量。流路系统采用创新性设计,并集成自动进样器,适用于多种样品测量,如复杂样品中的配体垂钓、细胞研究、小分子检测以及蛋白质和DNA分析。XelPleX采用的EzSuite软件平台,操作简单且可高效处理各种应用。

UVISEL相位调制型椭圆偏振光谱仪是基于25年经验研制而成的杰作,它具有无可比拟的高精度、高分辨率、优异的信噪比、长期的稳定性(UVISEL所实现的长期稳定性无需频繁校准),是纳米/微米级结构研究的理想工具。

HORIBA科学仪器事业部拥有超过35年的高性能ICP-OES开发及生产历史。 新款Ultima Expert 结合各类套装软件,简化及优化分析方法,可以为实验室内各类复杂样品提供极佳的解决方案。

推荐产品
供应产品

HORIBA(中国)

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: HORIBA (中国)

公司地址: 上海市天山西路1068号联强国际广场A栋1层D单元 联系人: 陆小姐 邮编: 200335 联系电话: 400-860-3611

友情链接:

仪器信息网APP

展位手机站