Bruker和DECTRIS宣布推出具有新型EIGER2 R 500K检测器的D8TM X射线衍射系统

　　Bruker和DECTRIS在第24届国际晶体学联合大会(IUCr)大会上宣布，EIGER2 R 500K是最新一代的混合光子计数(HPC)像素检测器，DECTRIS是实验室仪器和同步加速器束线的HPC探测器的技术领导者。 DECTRIS和BRUKER紧密合作，将卓越的2D检测器无缝集成到Bruker的D8 ADVANCETM和D8 DISCOVERTM仪器平台中，以进一步提高许多X射线衍射(XRD)应用的性能。

　　最新一代专有的EIGER HPC检测器使XRD具备更强大的新技术优势：高帧速率可实现连续扫描模式下的2D数据采集，无空间失真的单光子计数，最高计数率和动态范围。结合Bruker D8TM X射线衍射系统，可以在0D，1D和2D模式之间切换。

　　这些新功能完全集成到Bruker D8TM X射线衍射系统中，通过X射线反射测量(XRR)和高分辨率衍射(HRXRD)至小角度X射线散射(SAXS和GISAXS)的薄膜分析，EIGER2 R 500K检测器能够从粉末衍射(XRPD)、微衍射(μXRD)、纹理或残余应力分析、微晶等应用中得到出色的衍射分析数据。 D8 ADVANCE或D8 DISCOVER与EIGER2 R 500K的强大组合显着扩展并加快了XRD用户的分析能力。

　　“从产品开发的早期阶段合作，我们能够提供的新的EIGER2 R 500K检测器能够与Bruker AXS D8 XRD系统无缝集成，这使得客户能够从发射中获得先进的检测器技术。” DECTRIS的首席执行官克里斯蒂安·布伦尼曼(Christian Broennimann)表示。

　　Bruker AXS副总裁兼总经理Lutz Bruegemann博士补充说：“DECTRIS和Bruker的协调发展团队做了很多工作。使得最新的HPC检测器技术与市场上功能最强大、用户友好的XRD平台联合产生了卓越的性能，使客户能够将新的EIGER 2R 500K无缝地并入我们的D8衍射解决方案中，并用于许多重要的应用中。”