您好,欢迎访问仪器信息网
注册
大昌华嘉科学仪器

关注

已关注

钻石24年 钻石

已认证

粉丝量 0

科学仪器行业领军企业

400-860-0975

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: 大昌华嘉 > 资料中心 > Particle Metrix应用于胶体中电荷滴定分析

Particle Metrix应用于胶体中电荷滴定分析

2016-03-15 11:51

浏览:129

分享:

资料摘要:

在许多情况下,胶体的稳定依赖于颗粒间静电斥力。在颗粒界面的离子团起主要作用。因为斥力是零,范德华吸引力可能导致凝聚和随后的颗粒和液相的分离。通过颗粒界面化学改性可以控制斥力。环境情况如pH、电导率、聚合物的存在也必须考虑。在这样的系统中, 可以通过斥力电位的值和粒度分布预测不稳定性。为了改善稳定性和分散性,大量的配方研发工作必不可少。Stabino?对于稳定性研究很有帮助。

下载本篇资料:

资料文件名:
资料大小
下载
Particle Metrix应用于胶体中电荷滴定分析.pdf
619KB

相关资料

纸浆和纸品工艺过程中用到高浓度的化学物,如氯,二氧化氯和盐酸用来漂白,由此产生的废水包含有机氯化物,这些物质对环境有害,因此废水中可吸附有机卤素AOX和纸浆中的总有机卤素TOX显得尤为重要。

比表面和孔径测量: Microtrac MRB采用气体吸附法为粉体样品的比表面值,BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。 我们为客户提供先进的技术,以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。

比表面和孔径测量: Microtrac MRB采用气体吸附法为粉体样品的比表面值,BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。 我们为客户提供先进的技术,以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。

比表面和孔径测量: Microtrac MRB采用气体吸附法为粉体样品的比表面值,BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。 我们为客户提供先进的技术,以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。

推荐产品
供应产品

大昌华嘉科学仪器

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位