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Toho
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TohoSpec 3100
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亚洲
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TohoSpec 3100
精确测膜厚度
TohoSpec 3100是一款低成本的薄膜厚度测量系统，它利用了一个现代的小点光谱反射计，建立在一个简单易用的桌面平台上。该系统结合了从市场领导者nanometics获得的核心技术，专为各种研发应用而设计。可靠的固态线性二极管阵列可提供快速、精确的单层薄膜测量，如氧化物、氮化物和光抗蚀剂，以及厚度范围为100Å至30 μ m的多达3层薄膜堆栈上的顶层。一个突出的价值，完成多达15个标准薄膜厚度测量算法，这种坚固和准确的系统在世界各地的实验室中使用，以紧凑的设计提供精确的薄膜厚度测量。
产品货期: 200天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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